Wykaz publikacji wybranego autora

Krzysztof Kasiński, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki

  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-7991-1151 orcid iD

ResearcherID: K-9171-2019

Scopus: 26967694700

PBN: 5e70922b878c28a047391153

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
2
  • [inne, 2011]
  • TytułEvolution of a prototype silicon strip detector readout ASIC for the STS
    AutorzyK. KASIŃSKI, R. SZCZYGIEŁ, P. GRYBOŚ
    ŹródłoCBM Progress Report 2010 / eds. Volker Friese, Christian Sturm. — Darmstadt : GSI Darmstadt, cop. 2011. — S. 22

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Paweł Leonard Gryboś, Robert Szczygieł

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • [referat, 2011]
  • TytułPrototype readout electronics and silicon strip detector study for the silison tracking system at compressed baryonic matter experiment
    AutorzyKrzysztof KASIŃSKI, Robert SZCZYGIEŁ, Paweł GRYBOŚ
    ŹródłoPhotonics applications in astronomy, communications, industry, and high-energy physics experiments 2011 [Dokument elektroniczny] : 23–29 May 2011, Wilga, Poland / ed. Ryszard S. Romaniuk. — [USA : SPIE], cop. 2011. — S. 800809-1–800809-10

  • keywords: integrated circuits, high energy physics, silicon strip detector, silicon tracker

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Paweł Leonard Gryboś, Robert Szczygieł

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1117/12.904879

4
5
  • [referat, 2011]
  • TytułTOT02, a time-over-threshold based readout chip in 180 nm CMOS process for long silicon strip detectors
    AutorzyK. KASIŃSKI, R. SZCZYGIEŁ, P. GRYBOŚ
    Źródło2011 IEEE Nuclear science symposium and Medical imaging conference [Dokument elektroniczny] : 18th international workshop on Room-temperature semiconductor x-ray and gamma-ray detectors : industrial exhibition/short courses/ special focus workshops : Valencia, Spain, 23–29 October 2011 / guest ed. Mokhtar Chmeissani ; The Institute of Electrical and Electronics Engineers. — [Piscataway : IEEE], [2011]. — S. 631–636

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Paweł Leonard Gryboś, Robert Szczygieł

    cyfrowy identyfikator dokumentu: