Wykaz publikacji wybranego autora

Maciej Kachel, mgr inż.

asystent

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [referat, 2010]
  • TytułMEA based multichannel system employing ASIC for in vivo and in vitro experiments
    AutorzyPaweł GRYBOŚ, Piotr KMON, Robert SZCZYGIEŁ, Mirosław ŻOŁĄDŹ, Maciej KACHEL
    ŹródłoMEA Meeting 2010 : 7textsuperscript{th} international meeting on Substrate-integrated microelectrode arrays : June 29 – July 2, 2010, Reutlingen, Germany : proceedings / ed. Alfred Stett. — Stuttgart : BIOPRO Baden-Württemberg GmbH, 2010. — S. 334–335
2
  • [referat, 2010]
  • TytułMeasurements and performance of a low noise 64-channel ASIC with CdTe strip detectors
    AutorzyMaciej KACHEL, Paweł GRYBOŚ, Robert SZCZYGIEŁ, Takeyoshi Taguchi
    Źródło2010 IEEE nuclear science symposium ; Medical imaging conference ; 17th room temperature semiconductor detector workshop [Dokument elektroniczny] : October 30, 2010 – November 6, 2010, Knoxville, Tennessee / IEEE, Nuclear Plasma Sciences Society, Massachusetts Institute of Technology. — [USA] : IEEE, cop. 2010. — S. 1560–1564
3
  • [artykuł w czasopiśmie, 2010]
  • TytułSXDR64 – Multichannel low noise ASIC for CdTe and GaAs detectors
    AutorzyMaciej KACHEL
    ŹródłoPrzegląd Elektrotechniczny / Stowarzyszenie Elektryków Polskich. — 2010 R. 68 nr 11a, s. 248–250
4
  • [referat, 2010]
  • TytułVIPIC IC – design and test aspects of the 3D pixel chip
    AutorzyG. W. Deptuch, M. Trimpl, R. Yarema, D. P. Siddons, G. Carini, P. GRYBOŚ, R. SZCZYGIEŁ, M. KACHEL, P. KMON, P. MAJ
    Źródło2010 IEEE nuclear science symposium ; Medical imaging conference ; 17th room temperature semiconductor detector workshop [Dokument elektroniczny] : October 30, 2010 – November 6, 2010, Knoxville, Tennessee / IEEE, Nuclear Plasma Sciences Society, Massachusetts Institute of Technology. — [USA] : IEEE, cop. 2010. — s. 1540–1543