Wykaz publikacji wybranego autora

Robert Szczygieł, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-6342-0107 orcid iD

ResearcherID: B-5662-2011

Scopus: 6603163212

PBN: 5e70922c878c28a0473911fe

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • [referat, 2015]
  • TytułCharge sensitive amplifier for nanoseconds pulse processing time in CMOS 40 nm technology
    AutorzyRafał KŁECZEK, Paweł GRYBOŚ, Robert SZCZYGIEŁ
    ŹródłoMIXDES 2015 : mixed design of integrated circuits and systems : Toruń, Poland June 25–27, 2015 : book of abstracts of 22textsuperscript{nd} international conference / ed. Andrzej Napieralski. — Łódź : Lodz University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science, cop. 2015. — S. 82
  • keywords: charge sensitive amplifier, readout front-end electronics

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/MIXDES.2015.7208529

2
3
  • [referat, 2015]
  • TytułDesign for the testability of the multichannel neural recording and stimulating integrated circuit
    AutorzyPiotr KMON, Piotr OTFINOWSKI, Paweł GRYBOŚ, Robert SZCZYGIEŁ, Mirosław ŻOŁĄDŹ, Agnieszka LISICKA
    ŹródłoMIXDES 2015 : mixed design of integrated circuits and systems : Toruń, Poland June 25–27, 2015 : book of abstracts of 22textsuperscript{nd} international conference / ed. Andrzej Napieralski. — Łódź : Lodz University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science, cop. 2015. — S. 85
  • keywords: ASIC, neurobiology experiments, neural recording, current stimulation, multi-channel architecture

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/MIXDES.2015.7208532

4
  • [referat, 2015]
  • TytułDigitally assisted low noise and fast signal processing charge sensitive amplifier for single photon counting systems
    AutorzyP. GRYBOŚ, A. DROZD, R. KŁECZEK, P. MAJ, R. SZCZYGIEŁ
    ŹródłoICIT 2015 [Dokument elektroniczny] : IEEE International Conference on Industrial Technology : 17-19 March 2015, Sevilla. — [Piscataway : IEEE], cop. 2015. — S. 1445–1450
  • keywords: ASIC, charge sensitive amplifier, low noise, single photon counting detectors, multi-channel processing

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
6
  • [referat, 2015]
  • TytułMethodology of automation process of wafer tests
    AutorzyPiotr MAJ, Aleksandra KRZYŻANOWSKA, Paweł GRYBOŚ, Robert SZCZYGIEŁ, Anna KOZIOŁ
    ŹródłoMIXDES 2015 : mixed design of integrated circuits and systems : Toruń, Poland June 25–27, 2015 : book of abstracts of 22textsuperscript{nd} international conference / ed. Andrzej Napieralski. — Łódź : Lodz University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science, cop. 2015. — S. 139
  • keywords: automated wafer test, wafer probe test, ASICs tests, IC tests optimization

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/MIXDES.2015.7208579

7
  • [referat, 2015]
  • TytułNoise optimization of the time and energy measuring ASIC for Silicon Tracking System
    AutorzyRafał KŁECZEK, Krzysztof KASIŃSKI, Robert SZCZYGIEŁ, Piotr OTFINOWSKI, Paweł GRYBOŚ
    ŹródłoMIXDES 2015 : mixed design of integrated circuits and systems : Toruń, Poland June 25–27, 2015 : book of abstracts of 22textsuperscript{nd} international conference / ed. Andrzej Napieralski. — Łódź : Lodz University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science, cop. 2015. — S. 126
  • keywords: sensitive, low noise, low power, charge, preamplifiers

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/MIXDES.2015.7208569

8
9
  • [artykuł w czasopiśmie, 2015]
  • TytułResults of tests of three-dimensionally integrated chips bonded to sensors
    AutorzyGrzegorz W. Deptuch, Gabriella Carini, Terence Collier, Paweł GRYBOŚ, Piotr KMON, Ronald Lipton, Piotr MAJ, David P. Siddons, Robert SZCZYGIEŁ, Raymond Yarema
    ŹródłoIEEE Transactions on Nuclear Science. — 2015 vol. 62 no. 1, s. 349–358. — tekst: http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=7027258
  • keywords: wafer bonding, Active Pixel Sensor, mixed analog digital integrated circuits, X-ray detectors, semiconductor radiation detectors, bonding processes, three dimensional integrated circuits, through-silicon vias

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/TNS.2014.2378784

10
11
  • [patent, wzór użytkowy, przemysłowy, 2015]
  • TytułSposób korekcji pasma częstotliwości w strukturach monolitycznych i układ do korekcji pasma częstotliwości w strukturach monolitycznych
    InventorAkademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie ; wynalazca: Piotr KMON, Mirosław ŻOŁĄDŹ, Robert SZCZYGIEŁ, Paweł GRYBOŚ
    DetailsInt.Cl.: H03G 3/10textsuperscript{(2006.01)}. — Polska. — Opis patentowy ; PL 220246 B1 ; Udziel. 2014-12-17 ; Opubl. 2015-09-30. — Zgłosz. nr P.397627 z dn. 2011-12-29. — tekst: http://patenty.bg.agh.edu.pl/pelneteksty/PL220246B1.pdf
  • słowa kluczowe: korekcja częstotliwościowa

    keywords: frequency correction

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

12