asystent
Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej WIMiIP-kism, Katedra Informatyki Stosowanej i Modelowania
ORCID: brak
ResearcherID: brak
Scopus: brak
słowa kluczowe: strefa półciekła, cyfrowa analiza obrazu, pustki, defekty
keywords: defects, digital image analysis, voids, semizone
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Mirosław Głowacki
cyfrowy identyfikator dokumentu: