Application of EFTEM and FIB electron tomography to 3D visualization and metrology of nanoparticles in Inconel 718 superalloy — Zastosowanie tomografii EFTEM i FIB do przestrzennej wizualizacji i metrologii nanocząstek w nadstopie Inconel 718 / Adam KRUK, Grzegorz CEMPURA, Beata DUBIEL, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // Inżynieria Materiałowa ; ISSN 0208-6247. — 2010 R. 31 nr 3, s. 606–609. — Bibliogr. s. 609

Characterisation of $\gamma$' and $\gamma$” strengthening particles in Inconel 718 superalloy by Electron Microscopy and FIB Tomography / A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ, A. KRUK, B. DUBIEL, G. CEMPURA // W: IMC17 [Dokument elektroniczny] : International Microscopy Congress : Rio, Brazil, 19–24 September, 2010 : proceedings. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Brazil : Sociedade Brasileira de Microscopia et Microanálise], [cop. 2010]. — 1 dysk optyczny. — S. [1–2]. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. [1–2]

Elastic properties of thin nanocrystalline wc-c and $TiB_{2}$ coatings by nanoindentation and AFM / F. Lofaj, G. CEMPURA, P. Hviščova, A. Duszová, J. Dusza, M. Mikula, P. Kúš // W: Seeing at the Nasnoscale VIII : an international conference : August 30–September 01, 2010 : Basel, Switzerland : abstracts. — [Switzerland : s. l.], [2010]. — Na okł. dod.: Exploring the future of nanotechnology using SPM and related techniques. — S. [1]

FIB tomography of $\gamma$' and $\gamma$” nanoparticles in IN718 superalloy / A. KRUK, G. CEMPURA, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: Past, present and future of (S)TEM and its applications : 9\textsuperscript{th}–11\textsuperscript{th} June 2010, Paris. — [S. l. : s. n.], [2010]. — S. 59. — Na okł. dod.: A tribute to the work of Christian Colliex

Low cycle fatigue behavior and microstructure of 3rd generation ${TiAl}$-based alloy — Zmęczenie niskocyklowe (LCF) oraz mikrostruktura stopu na osnowie ${TiAl}$ trzeciej generacji / Grzegorz CEMPURA, Heinz-Josef Penkalla, Florian Schubert, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // Inżynieria Materiałowa ; ISSN 0208-6247. — 2010 R. 31 nr 3, s. 658–661. — Bibliogr. s. 661

Three-dimensional imaging of nanoparticles and porosity in metallic materials using FIB tomography / A. KRUK, G. CEMPURA, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: IMC17 [Dokument elektroniczny] : International Microscopy Congress : Rio, Brazil, 19–24 September, 2010 : proceedings. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Brazil : Sociedade Brasileira de Microscopia et Microanálise], [cop. 2010]. — 1 dysk optyczny. — S. [1–2]. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. [1]

Zastosowanie tomografii elektronowej do przestrzennego obrazowania mikro- i nanocząstek w stopach metali — Application of electron tomography to 3D imaging of micro and nanoparticles in metallic alloys / Adam KRUK, Beata DUBIEL, Władysław OSUCH, Grzegorz CEMPURA, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ // Inżynieria Materiałowa ; ISSN 0208-6247. — 2010 R. 31 nr 2, s. 86–93. — Bibliogr. s. 93, Streszcz., Abstr.