Wykaz publikacji wybranego autora

Grzegorz Cempura, dr inż.

adiunkt

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-1875-1588 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 55071948300

PBN: 5e70920b878c28a04738f09c

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
2
  • [referat, 2009]
  • Tytuł3D characterization and metrology of oxide nanoparticles in ODS alloy by electron tomography
    AutorzyA. KRUK, B. DUBIEL, W. OSUCH, G. CEMPURA, J. C. Hernandez, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoMC 2009 [Dokument elektroniczny] : Microscopy Conference in Graz, Austria : 30 August–4 September 2009 / eds. G. Kothleitner, [et al.]. — Graz : Verlag der TU, cop. 2009. — S. 101–102

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Beata Dubiel, Adam Kruk, Władysław Osuch

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
4
  • [referat, 2020]
  • TytułAdvanced electron microscopy for aeronautics and energy systems : qualitative and quantitative approach
    AutorzyGrzegorz CEMPURA, Adam KRUK
    ŹródłoEM'2020 [Dokument elektroniczny] : XVII international conference on Electron Microscopy : November 30textsuperscript{th} - December 2textsuperscript{nd} 2020, Katowice, Poland : book of abstracts / Silesian University of Technology, Institute of Metallurgy and Materials Science. Polish Academy of Sciences, PTMi. — [Poland : Silesian University of Technology], [2020]. — S. 31

  • keywords: TEM, superalloys, in situ TEM, FIB SEM tomography

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Adam Kruk

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • [referat, 2023]
  • TytułAdvanced electron microscopy of materials for power generation
    AutorzyGrzegorz CEMPURA, Adam KRUK
    ŹródłoMODENERLANDS COST ACTION CA20109 : modular energy islands for sustainability and resilience : book of abstracts for the strategic workshop on the energy islands - technical challenges and industrial opportunities : Luxembourg, May 15–16, 2023 / ed. by Carlos Rebelo, [et al.]. — [Brussels : COST European Cooperation in Science & Technology], [2023]. — S. 98

  • keywords: microstructure, electron microscopy, power generation materials

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Adam Kruk

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • [referat, 2008]
  • TytułAnalysis of $gamma$' and $gamma$” precipitates in nickel-base superalloy inconel 718 using HRTEM and 3D visualisation methods : abstract
    AutorzyE. STĘPNIOWSKA, B. DUBIEL, D. Geiger, G. CEMPURA, J. C. Hernandez, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    Źródło2textsuperscript{nd} Stanisław Gorczyca Workshop on Electron microscopy: new TEM techniques : 1–4.10.2008, Kraków : proceedings / eds. Beata Dubiel, Elżbieta Stępniowska, Aleksandra Czyrska-Filemonowicz. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, 2008. — S. 306–307

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Beata Dubiel, Elżbieta Stępniowska

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • [artykuł w czasopiśmie, 2023]
  • TytułAnnihilation and generation of dislocations by irradiation by ions and electrons in strontium titanate single crystal
    AutorzyMarcin Wojtyniak, Christian Rodenbücher, Benedykt R. Jany, Grzegorz CEMPURA, Adam KRUK, Franciszek Krok, Krzysztof Szot
    ŹródłoCrystals [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2023 vol. 13 iss. 8 art. no. 1259, s. 1–8. — tekst: https://www.mdpi.com/2073-4352/13/8/1259/pdf?version=1692094315

  • keywords: strontium titanate, extended defects, dislocation concentration

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Adam Kruk

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3390/cryst13081259

8
  • [referat w czasopiśmie, 2019]
  • TytułApplication of analytical electron microscopy and FIB-SEM tomographic technique for phase analysis in as-cast Allvac 718Plus superalloy
    AutorzyAdam KRUK, Grzegorz CEMPURA
    ŹródłoInternational Journal of Materials Research. — 2019 vol. 110 iss. 1, s. 3–10. — tekst: https://www.hanser-elibrary.com/doi/pdf/10.3139/146.111678

  • keywords: STEM-HAADF, laves phase, SEM-EDS, ATI Allvac 718Plus, FIB SEM tomography

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Adam Kruk

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.3139/146.111678

9
  • [referat, 2017]
  • TytułApplication of analytical electron microscopy and FIB/SEM tomographic technique for phase analysis in as-cast Allvac 718Plus superalloy
    AutorzyA. KRUK, G. CEMPURA
    ŹródłoXVI International conference on Electron microscopy : 10 – 13 September 2017, Jachranka, Poland : conference program and book of abstracts / Warsaw University of Technology, Polish Society for Microscopy. — [Polska : WUT], [2017]. — S. 52

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Adam Kruk

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

10
  • [referat, 2018]
  • TytułApplication of analytical electron microscopy and tomographic techniques for metrology and 3D imaging of microstructural elements in $Allvac^®$ 718Plus™
    AutorzyA. KRUK, G. CEMPURA, S. LECH, A. M. Wusatowska-Sarnek, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoProceedings of the 9th international symposium on superalloy 718 & derivatives: energy, aerospace, and industrial applications / ed. Eric Ott, [et al.]. — Cham : Springer International Publishing AG, 2018. — S. 1035–1050

  • keywords: Laves phase, HRSTEM, Allvac 718Plus, STEM-EDX tomography, SEM-EDX, eta-phase, FIB SEM tomography

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Adam Kruk, Sebastian Lech

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1007/978-3-319-89480-5_69

11
  • [artykuł w czasopiśmie, 2010]
  • TytułApplication of EFTEM and FIB electron tomography to 3D visualization and metrology of nanoparticles in Inconel 718 superalloy
    AutorzyAdam KRUK, Grzegorz CEMPURA, Beata DUBIEL, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoInżynieria Materiałowa. — 2010 R. 31 nr 3, s. 606–609

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Beata Dubiel, Adam Kruk

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

12
  • [referat, 2008]
  • TytułApplication of electron tomography to 3D visualization of carbonitrides in steel
    AutorzyA. KRUK, W. OSUCH, G. CEMPURA, J. C. Hernandez
    ŹródłoEM'2008 : XIII international conference on Electron Microscopy : Zakopane, Poland, 8–11 June 2008 : abstracts. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2008. — S. 91

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Adam Kruk, Władysław Osuch

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

13
  • [referat, 2009]
  • TytułApplication of electron tomography to analysis of nanoparticles in structural alloys
    AutorzyGrzegorz CEMPURA, Adam KRUK, Beata DUBIEL, Juan C. Hernandes, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoE-MRS 2009 fall meeting : European Materials Research Society : Warsaw (Poland) : 14th – 18th September, 2009 : scientific programme and book of abstracts / Warsaw University of Technology. — [Polska : s. n.], [2009]. — S. 167

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Beata Dubiel, Adam Kruk

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

14
  • [referat, 2014]
  • TytułApplication of TEM and FIB-SEM tomography for analysis of micro- and nanostructural elements in 718Plus superalloy
    AutorzyA. KRUK, G. CEMPURA, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoAbstract book of 10th Japanese-Polish joint seminar on Micro and nano analysis : advances in microscopy and microanalysis for soft/hard materials : 24–26 October, 2014, Sapporo, Japan / Hokkaido University. Faculty of Engineering. — [Sapporo : Hokkaido University], [2014]. — S. 26–27

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Adam Kruk

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

15
  • [referat, 2011]
  • TytułApplication of transmission electron microscopy and FIB tomography to microstructure characterisation of tungsten based materials
    AutorzyS. Milc, A. KRUK, G. CEMPURA, H. J. Penkalla, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoPFMC-13 / FEMaS-1 [Dokument elektroniczny] : 13textsuperscript{th} international workshop on Plasma-facing materials and components for fusion applications and 1textsuperscript{st} international conference on Fusion energy materials science : Rosenheim 9–13 May 2011 : book of abstracts. — [Rosenheim? : s. n.], [2011]. — S. 184

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Adam Kruk

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

16
17
  • [artykuł w czasopiśmie, 2023]
  • TytułAtomic-scale characterization of contact interfaces between thermally self-assembled Au islands and few-layer $MoS_{2}$ surfaces on $SiO_{2}$
    AutorzyEnrico Gnecco, Arkadiusz Janas, Benedykt R. Jany, Antony George, Andrey Turchanin, Grzegorz CEMPURA, Adam KRUK, Manoj Tripathi, Frank Lee, A. B. Dalton, Franciszek Krok
    ŹródłoApplied Surface Science. — 2023 vol. 616 art. no. 156483, s. 1–6. — tekst: https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0169433223001599

  • keywords: self assembly, transmission electron microscopy, 2D materials, solid-solid interfaces, metal clusters

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Adam Kruk

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.apsusc.2023.156483

18
  • [referat, 2023]
  • TytułAtomic-scale characterization of contact interfaces between thermally self-assembled Au islands and $MoS_{2}$ substrate surfaces
    AutorzyE. Gnecco, B. R. Jany, A. George, A. Turchanin, G. CEMPURA, A. KRUK, F. Krok
    ŹródłoECOSS36 [Dokument elektroniczny] : 36textsuperscript{th} European Conference on Surface Science : 28. 08. 2023-01. 09. 2023, Łodz, Poland : abstract book (version 25/08) / Faculty of Physics and Applied Informatics, University of Lodz. — [Lodz : Faculty of Physics and Applied Informatics, University of Lodz], [2023]. — S. 37

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Adam Kruk

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

19
20
  • [referat, 2010]
  • TytułCharacterisation of $gamma$' and $gamma$” strengthening particles in Inconel 718 superalloy by Electron Microscopy and FIB Tomography
    AutorzyA. CZYRSKA-FILEMONOWICZ, A. KRUK, B. DUBIEL, G. CEMPURA
    ŹródłoIMC17 [Dokument elektroniczny] : International Microscopy Congress : Rio, Brazil, 19–24 September, 2010 : proceedings. — [Brazil : Sociedade Brasileira de Microscopia et Microanálise], [cop. 2010]. — S. [1–2]

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Beata Dubiel, Adam Kruk

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

21
  • [artykuł w czasopiśmie, 2011]
  • TytułCharacterisation of $TiB_{2}$ nanocrystalline coating on the $Cr-Ni-Mo$ austenitic steel
    AutorzyTomasz MOSKALEWICZ, Grzegorz CEMPURA, Marcin KOT, František Lofaj, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoInżynieria Materiałowa. — 2011 R. 32 nr 4, s. 600–603

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Tomasz Moskalewicz, Marcin Kot

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

22
  • [referat, 2016]
  • TytułCharacteristics of Al203 layers formed on aluminum alloys by plasma electrolytic oxidation
    AutorzyMateusz JĘDRUSIK, Grzegorz CEMPURA
    ŹródłoThe 5textsuperscript{th} Stanisław Gorczyca European school on Electron microscopy and electron tomography : Kraków, 5-8.07.2016 : proceedings / ed. by G. Cempura, A. Gruszczyński, A. Czyrska-Filemonowicz ; AGH University of Science and Technology, International Centre of Electron Microscopy for Materials Science, Faculty of Metals Engineering and Industrial Computer Science. — Kraków : AGH University of Science and Technology, 2016. — S. 398–399

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Mateusz Jędrusik

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

23
  • [artykuł w czasopiśmie, 2016]
  • TytułCharacteristics of multi-layer coatings synthesized on Ti6Al4V alloy by micro-arc oxidation in silver nitrate added electrolytes
    AutorzyFaiz Muhaffel, Grzegorz CEMPURA, Meryem Menekse, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ, Nevin Karaguler, Huseyin Cimenoglu
    ŹródłoSurface and Coatings Technology. — 2016 vol. 307 pt. A, s. 308–315. — tekst: https://goo.gl/Ffa9ze

  • keywords: silver, hydroxyapatite, microarc oxidation, Ti6Al4V, multi-layer coating, antibacterial, titania

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.surfcoat.2016.09.002

24
  • [referat, 2015]
  • TytułCharacterization of complex coatings deposited by micro-arc oxidation on Ti6Al7Nb alloy
    AutorzyJoanna KARBOWNICZEK, G. CEMPURA, F. Muhaffel, H. Cimenoglu, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoREDEOR : Unified Scientific Approaches Towards Regenerative Orthopaedics and Dentistry : international conference : 25–27 March 2015, Venice, Italy : conference book. — [Italy : s. n.], [2015]. — S. 48–49

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Joanna Karbowniczek

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

25
  • [referat, 2019]
  • TytułCharacterization of gold rich nanostructures on AIII-BV semiconductor surfaces by electron microscopy and machine learning techniques
    AutorzyB. R. Jany, A. Janas, W. Piskorz, K. Szajna, A. KRYSHTAL, G. CEMPURA, P. Indyka, A. KRUK, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ, F. Krok
    ŹródłoMC 2019 [Dokument elektroniczny] : Microscopy Conference : 1–5 September 2019, Berlin, Germany : abstracts. — [Berlin : s. n.], [2019]. — S. 303–304

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, Adam Kruk, Oleksander Kryshtal

    cyfrowy identyfikator dokumentu: