Wykaz publikacji wybranego autora

Jarosław Kanak, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (50%)


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (50%)


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-0871-7095 orcid iD

ResearcherID: N-4668-2015

Scopus: 8852353900

PBN: 5e70922b878c28a047391150

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • [fragment książki, 2012]
  • TytułAFM studies of RF sputtered and annealed tungsten trioxide thin films in view of gas sensors applications
    AutorzyJerzy SOKULSKI, Jarosław KANAK, Wojciech MAZIARZ, Henryk JANKOWSKI, Tadeusz PISARKIEWICZ
    ŹródłoMicroelectronic materials and technologies, Vol. 1 / monograph ed. Zbigniew Suszyński. — Koszalin : Wydawnictwo Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2012. — S. 113–124
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • [referat, 2012]
  • TytułDepth profiling of multilayers for spintronics and plastic electronics
    AutorzyJakub Rysz, Andrzej BERNASIK, Mateusz MARZEC, Andrzej Budkowski, Jerzy WRONA, Jarosław KANAK, Tomasz STOBIECKI
    ŹródłoSIMS Europe 2012 : 8textsuperscript{th} European workshop on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 9–11, 2012, Münster, Germany : final program and book of abstracts / Westfälische Wilhelms-Universität Münster. — [Münster : s. n.], [2012]. — S. 34
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
4