doktorant
Faculty of Metals Engineering and Industrial Computer Science WIMiIP-kip
ORCID: brak
ResearcherID: brak
Scopus: brak
OPI Nauka Polska
TEM microstructure investigation of ferroelectric and conductive oxide thin films obtained by pulsed laser deposition technique / R. CHMIELOWSKI, V. Madigou, M. BLICHARSKI, Ch. Leroux // W: IMC16 : 16th International Microscopy Congress : Microscopy for the 21st century : 3–8 September 2006 Sapporo, Japan : proceedings. Vol. 3, Materials science / eds. Hideki Ichinose, Takahisa Sasaki. — [Japan : Publication committee of IMC16], [2006]. — S. 1753
brak zdefiniowanych słów kluczowych
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Marek Blicharski
cyfrowy identyfikator dokumentu: