doktorant
Faculty of Metals Engineering and Industrial Computer Science WIMiIP-kip
ORCID: brak
ResearcherID: brak
Scopus: brak
OPI Nauka Polska
Structural analysis of $Sr_{n+1}Ru_{n}O_{3n+1}$ thin films elaborated by laser ablation technique / R. CHMIELOWSKI, V. Madigou, M. A. Frémy, M. BLICHARSKI, G. Nihoul // W: microCEM : workshop on “Progress in microstructure Characterization by Electron Microscopy” : 30 September – 2 October 2005, Zakopane, Poland : book of abstracts. — Krakow : Polish Academy of Sciences. Institute of Metallurgy and Materials Science, 2005. — S. 41, P 11
brak zdefiniowanych słów kluczowych
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Marek Blicharski
cyfrowy identyfikator dokumentu: