Application of neural networks to voltage fluctuations measurement – a proposal for a new flickermeter / Marcin SZLOSEK, Bogusław ŚWIĄTEK, Zbigniew HANZELKA, Andrzej BIEŃ // W: EPQU '05 : Electrical Power Quality and Utilisation : 8th international conference : September 21–23, 2005, Cracow, Poland : proceedings / eds. Ryszard Pawełek. — Łódź : Technical University. Institute of Electrical Power Engineering, 2005. — S. 267–272. — Bibliogr. s. 272, Abstr.

Application of the neural network in voltage fluctuation measurement – proposition of the new flickermeter / Marcin SZLOSEK, Bogusław ŚWIĄTEK, Zbigniew HANZELKA // W: Cigre session 41 : 27\textsuperscript{th} August – 1\textsuperscript{st} September 2006 / Conseil International des Grands Réseaux Électriques. — [France : CIGRE], [2006]. — S. [1–4]. — Bibliogr. s. [2–4]. — W publikacji błędnie podano imię autora: Bogdan Świątek

Comparative tests of flickermeters / Marcin SZLOSEK, Marcin Piekarz, Zbigniew HANZELKA, Andrzej BIEŃ, Władysław ŁOZIAK, Krzysztof PIĄTEK, Robert PIETRUCHA, [et al.] // W: CIRED 2003 : 17\textsuperscript{th} international conference and exhibition on Electricity distribution : Barcelona 12–15 May 2003. Session 2, Power quality and EMC : technical reports. — [Spain : s. n.], [2003]. — S. [1–5]. — Bibliogr. s. [5]

Sensibility of digital flickermeter to changes made to the design procedure / Hashad M., Hartman M., HANZELKA Z., BIEŃ A., SZLOSEK M. // W: PCIM 2003 Europe : official proceedings of the ninth European power quality conference : May 20–22, 2003 : Nürnberg, Germany. — [Germany : s. n.], [2003]. — S. 337–342. — Bibliogr. s. 342, Abstr.