Wykaz publikacji wybranego autora

Zbigniew Stanisław Sobków, dr inż.

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, *Katedra Elektroniki

Identyfikatory Autora	Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych
ORCID: brak ResearcherID: brak Scopus: brak	OPI Nauka Polska

Identyfikatory Autora

Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

wydruk:

sortowanie:

1

Electrochromic system supplied by photovoltaic source
Electrochromic system supplied by photovoltaic source / Konstanty MARSZAŁEK, Tomasz STAPIŃSKI, Barbara SWATOWSKA, Zbigniew SOBKÓW // W: IMAPS – CPMT 2011 [Dokument elektroniczny] : 35th International Microelectronics and Packaging IMAPS – IEEE CPMT Poland conference : September 21–24, 2011, Gdańsk–Sobieszewo : proceedings / eds. Piotr Jasiński, Grzegorz Jasiński ; Gdańsk University of Technology. Faculty of Electronics, Telecommunications and Informatics. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — Gdańsk : [Gdańsk University of Technology], 2011. — 1 dysk optyczny. — e-ISBN: 978-83-607791-4-9. — S. 157–159. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 159, Abstr.. — Tytuł przejęto z ekranu tyt.

2

FPGA implemented temperature controller for mid-IR methane optical detector
FPGA implemented temperature controller for mid-IR methane optical detector / Zbigniew St. SOBKÓW, Artur RYDOSZ // Przegląd Elektrotechniczny = Electrical Review / Stowarzyszenie Elektryków Polskich ; ISSN 0033-2097. — 2011 R. 87 nr 6, s. 227–229. — Bibliogr. s. 229, Streszcz., Abstr.

3

Influence of indium dilution level on magnetic properties and photoconductivity of $Cd_{1-y}Cr_{2-2x}In_{2x+y}Se_{4}$ magnetic semiconductors
Influence of indium dilution level on magnetic properties and photoconductivity of $Cd_{1-y}Cr_{2-2x}In_{2x+y}Se_{4}$ magnetic semiconductors / B. T. CIĘCIWA, L. J. MAKSYMOWICZ, M. LUBECKA, H. JANKOWSKI, J. SOKULSKI, Z. SOBKÓW // Materials Science (Poland) / Wrocław University of Technology. Centre of Advanced Materials and Nanotechnology ; ISSN 0137-1339. — 2003 vol. 21 no. 1, s. 99–106. — Bibliogr. s. 106, Abstr.. — 7th Korean-Polish joint seminar on Physical properties of magnetic materials : Warszawa, Poland, 1–5 December 2002

4

Modified structures of multicrystalline silicon as light detectors
Modified structures of multicrystalline silicon as light detectors / Barbara SWATOWSKA, Tomasz STAPIŃSKI, Z. SOBKÓW // W: Optoelectronic and electronic sensors VI : 19–22 June 2006, Zakopane, Poland / ed. Tadeusz Pisarkiewicz. — Bellingham ; Washington : SPIE – ISOE, cop. 2006. — (Proceedings of SPIE / The International Society for Optical Engineering ; ISSN 0277-786X ; vol. 6348). — ISBN: 978-0-8194-6432-3. — S. 634807-1–634807-4. — Bibliogr. s. 634807-4, Abstr.

5

Optyczne detektory gazów w obszarze bliskiej podczerwieni
Optyczne detektory gazów w obszarze bliskiej podczerwieni — Optical gases detectors in the near infrared region / Zbigniew SOBKÓW, Wojciech MAZIARZ, Tadeusz PISARKIEWICZ // W: Kierunki działalności i współpraca naukowa Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki : materiały konferencji zorganizowanej z okazji Jubileuszu 90-lecia AGH : Kraków, 28–29 maja 2009 / komitet red. Wojciech Mitkowski, Adam Piłat. — Kraków : AGH WEAIiE, cop. 2009 + CD. — ISBN: 978-83-88309-87. — S. 105–106. — Bibliogr. s. 106, Streszcz., Abstr.

6

Sterownik procesu rozpylania pracujący w środowisku LabVIEW
Sterownik procesu rozpylania pracujący w środowisku LabVIEW — LabVIEW controller for sputtering deposition system / Konstanty MARSZAŁEK, Zbigniew St. SOBKÓW, Józef CIOTUŃ // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2009 R. 50 nr 1, s. 102–104. — Bibliogr. s. 104, Streszcz., Summ.. — IV Kongres Polskiego Towarzystwa Próżniowego oraz VIII Krajowa Konferencja Techniki Próżni : Janów Lubelski, 21–24 września 2008 r. — Warszawa : Wydawnictwo Czasopism i Książek Technicznych SIGMA-NOT, 2009

7

System do testowania wyświetlaczy LCD pracujący w środowisku LabVIEW
System do testowania wyświetlaczy LCD pracujący w środowisku LabVIEW — LabVIEW environment working system for LCD displays testing / Konstanty MARSZAŁEK, Zbigniew SOBKÓW, Tadeusz PISARKIEWICZ // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2009 vol. 50 nr 9, s. 85–86. — Bibliogr. s. 86, Streszcz., Summ.

8

System pomiarowy do badania charakterystyk cienkowarstwowych układów elektrochromowych
System pomiarowy do badania charakterystyk cienkowarstwowych układów elektrochromowych — The measuring system to investigation of profiles of thin-layer arrangements the electrochromic / Konstanty MARSZAŁEK, Zbigniew SOBKÓW, Tomasz STAPIŃSKI // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2011 R. 52 nr 8, s. 68–69. — Bibliogr. s. 69, Streszcz., Summ.. — IX Konferencja Techniki Próżni i Workshop on Field Emission from Carbonaceous Materials : Cedzyna, 6–9 czerwca 2011

9

Vision based system for position recognition of small mobile robots
Vision based system for position recognition of small mobile robots / Łukasz WIĘCKOWSKI, Zbigniew St. SOBKÓW, Maciej GARBACZ, Mieczysław ZACZYK // Image Processing & Communications : an International Journal ; ISSN 1425-140X. — 2012 vol. 17 no. 4, s. 313–318. — Bibliogr. s. 317–318, Abstr.