Krzemowy detektor paskowy promieniowania X i jego zastosowania w dyfraktometrii — [Silicon strip detector of X-ray radiation and its applications in diffraction measurements] / Andrzej ZIĘBA, Władysław DĄBROWSKI, Paweł GRYBOŚ, Wiesław POWROŹNIK, Jacek SŁOWIK, Tomasz STOBIECKI, Krzysztof ŚWIENTEK, Piotr WIĄCEK // W: XLIV Konwersatorium krystalograficzne : Wrocław, 27–28 VI 2002 = 44\textsuperscript{th} Polish crystallographic meeting. — [Polska : s. n], 2002. — S. 29–30, 0-18. — Bibliogr. s. 30

Kształt piku dyfrakcyjnego uzyskanego przy pomocy liniowego detektora pozycjoczułego przy skokowym i ciągłym przesuwie ramienia dyfraktometru : [abstrakt] — [The profile of the diffraction peak obtained with use of linear position-sensitive detector with discrete and continuous movement of the diffractometer arm : abstract] / Klaudiusz SŁOWIKOWSKI, Jacek SŁOWIK, Andrzej ZIĘBA // W: XLV Konwersatorium krystalograficzne : Wrocław, 26–27 czerwca 2003 = 45\textsuperscript{th} Polish crystallographic meeting. — [Polska : s. n.], [2003]. — S. 212, P-131. — Bibliogr. s. 212