Wykaz publikacji wybranego autora

Katarzyna Tkacz-Śmiech, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki
WIMiC-kfmp, Katedra Fizykochemii i Modelowania Procesów


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-5871-7720 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 6603142751

PBN: 5e70920b878c28a04738f012

OPI Nauka Polska




1
  • [referat, 2015]
  • TytułDarken interdiffusion in Onsager matrix representation
    AutorzyBogusław BOŻEK, Marek DANIELEWSKI, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH, Marek ZAJUSZ
    ŹródłoMathematics in technical and natural sciences : 14textsuperscript{th} conference : Kościelisko, 18textsuperscript{th}–24textsuperscript{th} September 2015. — [Polska : s. n.], [2015]. — S. 4
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • [referat, 2015]
  • TytułDiffusion in multiphase systems: a comparison of mathematical models with experimental data
    AutorzyMarek ZAJUSZ, Bogusław BOŻEK, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH, Katarzyna BERENT, Marek DANIELEWSKI
    ŹródłoMathematics in technical and natural sciences : 14textsuperscript{th} conference : Kościelisko, 18textsuperscript{th}–24textsuperscript{th} September 2015. — [Polska : s. n.], [2015]. — S. 35
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
4
5
6
  • [referat, 2015]
  • TytułMultiphase $Ni-Cr-Al$ diffusion: a comparison of bi-velocity phase field simulations with experimental data
    AutorzyM. ZAJUSZ, B. BOŻEK, K. TKACZ-ŚMIECH, K. BERENT, M. DANIELEWSKI
    ŹródłoDSL2015 [Dokument elektroniczny] : 11textsuperscript{th} international conference of Diffusion in Solids and Liquids : Munich, Germany, 22–26 June, 2015 : abstract book. — [Germany : DSL Conference], [2015]. — S. 101
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • [referat, 2015]
  • TytułOn the consistency of Onsager's reciprocal relations in various reference frames; a critical test of the bi-velocity (Darken) method by entropy calculations
    AutorzyMarek DANIELEWSKI, Marek ZAJUSZ, Bogusław BOŻEK, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH
    ŹródłoDSL2015 [Dokument elektroniczny] : 11textsuperscript{th} international conference of Diffusion in Solids and Liquids : Munich, Germany, 22–26 June, 2015 : abstract book. — [Germany : DSL Conference], [2015]. — S. 113
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
  • [referat, 2015]
  • TytułOn the correlation between the chemical composition of the amorphous $a-Si_{x}C_{y}N_{z}(H)$ layers deposited by PACVD and their band gap
    AutorzyJanusz Jaglarz, Maria JURZECKA-SZYMACHA, Stanisława KLUSKA, Tomasz STAPIŃSKI, Barbara SWATOWSKA, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH
    ŹródłoSENM 2015 [Dokument elektroniczny] : Smart Engineering of New Materials : 22–25 June 2015 Lodz, Poland : abstract book. — [Lodz : s. n.], [2015]. — S. [1]
  • keywords: PACVD, band gap, spectroscopic ellipsometry, amorphous a-SixCyNz(H) layers, optical constants

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

9
  • [referat, 2015]
  • TytułOn the correlation between the chemical composition of the amrophous $a-Si_{x}C_{y}N_{z}(H)$ layers deposited by PACVD and their band gap
    AutorzyStanisława KLUSKA, Janusz Jaglarz, Maria JURZECKA-SZYMACHA, Tomasz STAPIŃSKI, Barbara SWATOWSKA, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH
    ŹródłoMicroTherm 2015 [Dokument elektroniczny] : Microtechnology and Thermal Problems in Electronics : June 23textsuperscript{rd} – June 25textsuperscript{th} 2015, Lodz, Poland : official proceedings / ed. Jacek Podgórski. — Lodz : Lodz University of Technology, cop. 2015. — S. 31–35
  • keywords: PACVD, band gap, amorphous a-SixCyNz(H) layers, optical constants, specroscopic ellipsometry

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

10
11
  • [referat, 2015]
  • TytułSymmetrical ion channel: from NPP to Darken-Nernst-Planck-Poisson model
    AutorzyBogusław BOŻEK, Marek DANIELEWSKI, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH
    ŹródłoMathematics in technical and natural sciences : 14textsuperscript{th} conference : Kościelisko, 18textsuperscript{th}–24textsuperscript{th} September 2015. — [Polska : s. n.], [2015]. — S. 3
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

12
  • [fragment książki, 2015]
  • TytułThermo-optical parameters of amorphous a-C:N:H layers
    AutorzyE. BARANIAK, J. Jaglarz, K. MARSZAŁEK, K. TKACZ-ŚMIECH
    ŹródłoEYEC monograph : 4textsuperscript{th} European Young Engineers Conference : April 27–29textsuperscript{th} 2015, Warsaw / ed. Michał Wojasiński, Bartosz Nowak ; Scientific Club of Chemical and Process Engineering. Faculty of Chemical and Process Engineering. Warsaw University of Technology. — Warsaw : University of Technology. Faculty of Chemical and Process Engineering, cop. 2015. — S. 360
  • keywords: PACVD, ellipsometry, a-C:N:H layers, thermooptical parameters

    cyfrowy identyfikator dokumentu: