Wykaz publikacji wybranego autora

Katarzyna Tkacz-Śmiech, dr hab. inż., prof. AGH

Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki
WIMiC-kfmp, Katedra Fizykochemii i Modelowania Procesów

2018
[dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora	Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych
ORCID: 0000-0002-5871-7720 połącz konto z ORCID ResearcherID: brak Scopus: 6603142751 PBN: 5e70920b878c28a04738f012	OPI Nauka Polska

Identyfikatory Autora

Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-5871-7720 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 6603142751

PBN: 5e70920b878c28a04738f012

sortowanie:

1

Electrochemistry of symmetrical ion channel: three-dimensional Nernst-Planck-Poisson model / B. BOŻEK, H. Leszczyński, K. TKACZ-ŚMIECH, M. DANIELEWSKI // Diffusion and Defect Data – Solid State Data. Part A, Defect and Diffusion Forum ; ISSN 1012-0386. — 2015 vol. 363, s. 68–78. — Bibliogr. s. 76–78, Abstr.. — DIMAT-2014 : international conference on Diffusion in Materials : August 17 to 22, 2014, Münster, Germany. — tekst: http://www.scientific.net/DDF.363.68.pdf
keywords: electrodiffusion, boundary conditions, nano channel, stationary solution

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Marek Danielewski, Bogusław Bożek

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.4028/www.scientific.net/DDF.353.68

2

Interdiffusion: compatibility of Darken and Onsager formalisms / B. BOŻEK, M. DANIELEWSKI, K. TKACZ-ŚMIECH, M. ZAJUSZ // Materials Science and Technology ; ISSN 0267-0836. — 2015 vol. 31 no. 13B spec. iss. Applications of irreversible thermodynamics in metallurgy and materials science, s. 1633–1641. — Bibliogr. s. 1641. — tekst: http://www.maneyonline.com/doi/pdfplus/10.1179/1743284715Y.0000000077
keywords: entropy, interdiffusion, Darken method, Onsager principle, Vegard rule

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Marek Danielewski, Bogusław Bożek, Marek Zajusz

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1179/1743284715Y.0000000077

3

Interdiffusion: consistency of Darken's and Onsager's methods / J. DĄBROWA, W. KUCZA, K. TKACZ-ŚMIECH, B. BOŻEK, M. DANIELEWSKI // Diffusion and Defect Data – Solid State Data. Part A, Defect and Diffusion Forum ; ISSN 1012-0386. — 2015 vol. 363, s. 29–34. — Bibliogr. s. 34, Abstr.. — DIMAT-2014 : international conference on Diffusion in Materials : August 17 to 22, 2014, Münster, Germany. — tekst: http://www.scientific.net/DDF.363.29.pdf
keywords: modelling, interdiffusion, diffusion, thermodynamics

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Marek Danielewski, Bogusław Bożek, Witold Kucza, Juliusz Dąbrowa

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.4028/www.scientific.net/DDF.363.29

4

Optical characteristics of $a-Si:H$ layers deposited by PACVD at various temperatures / Janusz Jaglarz, Maria JURZECKA-SZYMACHA, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH, Bouchta Sahraoui // Optical Materials ; ISSN 0925-3467. — 2015 vol. 39, s. 26–33. — Bibliogr. s. 33, Abstr.. — tekst: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0925346714005163/pdfft?md5=c715176f11b6e89198742e523fad0881&pid=1-s2.0-S0925346714005163-main.pdf
keywords: PACVD, band gap, spectroscopic ellipsometry, amorphous hydrogenated silicon, optical indices, depolarization phenomena

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Maria Jurzecka-Szymacha

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.optmat.2014.10.057

5

Thermo-optical parameters of amorphous a-C:N:H layers / E. BARANIAK, J. Jaglarz, K. MARSZAŁEK, K. TKACZ-ŚMIECH // W: EYEC monograph : 4\textsuperscript{th} European Young Engineers Conference : April 27–29\textsuperscript{th} 2015, Warsaw / ed. Michał Wojasiński, Bartosz Nowak ; Scientific Club of Chemical and Process Engineering. Faculty of Chemical and Process Engineering. Warsaw University of Technology. — Warsaw : University of Technology. Faculty of Chemical and Process Engineering, cop. 2015. — Na okł. dod.: 100 lecie odnowienia tradycji Politechniki Warszawskiej. — ISBN: 978-83-936575-1-3. — S. 360
keywords: PACVD, ellipsometry, a-C:N:H layers, thermooptical parameters

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Konstanty Marszałek, Ewa Baraniak

cyfrowy identyfikator dokumentu: