Analiza fraktalnych własności profili przełomów stali 41Cr4 — [Fractal properties analysis of the 41Cr4 steel fracture profiles] / Kurt WIENCEK, Andrzej CZARSKI, Tadeusz SKOWRONEK // W: Polska metalurgia w latach 1998–2002, T. 2 / red. K. Świątkowski ; Komitet Metalurgii Polskiej Akademii Nauk. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „AKAPIT”, 2002. — ISBN10: 8391015920. — S. 510–515. — Bibliogr. s. 515, Abstr.

Grain boundary contrasting on the map of the crystallographic orientation topography — Korngrenzenkontrastierung durch kristallographisches Orientierungs-Topographie-Mapping / J. Pospiech, K. WIENCEK, A. Morawiec, A. Piątkowski // Praktische Metallographie = Practical Metallography ; ISSN 0032-678X. — 2002 Bd. 39 no. 3, s. 126–139. — Bibliogr. s. 139, Abstr., Kurzfassung

Grains density in castings – a theoretical model and experimental verification / FRAŚ E., GÓRNY M., WIENCEK K. // Acta Metallurgica Slovaca ; ISSN 1335-1532. — 2002 R. 8 spec. iss. 2 (2/2), s. 375–380. — Bibliogr. s. 379–380, Abstr.. — [Zvyšovanie akosti v zlievarenstve = Quality assurance in foundry : 5. medzinárodná vedecká konferencia = 5th international scientific conference : Slovensko, Podbanské, 15.–17. 5. 2002]. — [Košice : Technická Univerzita, 2002]

Opis dyspersyjnej fazy $Fe_{3}C$ w stali za pomocą modelu Stienena — Description of the $Fe_{3}C$ dispersion in steel by the Stienen model / K. WIENCEK // W: KomPlasTech 2002 : zastosowanie komputerów w zakładach przetwórstwa metali : materiały 9. [dziewiątej] konferencji : Szczawnica 13–16 stycznia 2002 / eds. Maciej Pietrzyk, Jan Kusiak, Franciszek Grosman, Antoni Piela. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, 2002. — Na okł. także tyt.: Informatyka w technologii metali. — S. 119–125. — Bibliogr. s. 125, Abstr.

Przyczynek do ilościowej mikroskopii elektronowej faz dyspersyjnych w stopach metali — Contribution to the quantitative electron microscopy of dispersed phases in metal alloys / Kurt WIENCEK // Inżynieria Materiałowa ; ISSN 0208-6247. — 2002 R. 23 nr 4, s. 182–185. — Bibliogr. s 185, Streszcz., Summ.

The crystallographic stereology : new applications of the ACOM/SEM technique / J. Pośpiech, K. WIENCEK, A. Piątkowski // W: XI International conference on Electron microscopy of solids : Krynica, Poland, 19–23 May 2002 : abstracts / org.: Institute of Metallurgy and Materials Science of Polish Academy of Sciences, Microscopy Section of Committee on Materials Science of Polish Academy of Sciences, Polish Materials Society. — [Poland : PAS], [2002]. — S. 83