Wykaz publikacji wybranego autora

Przemysław Gawroński, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kis, Katedra Informatyki Stosowanej i Fizyki Komputerowej


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-8945-687X orcid iD

ResearcherID: A-2375-2017

Scopus: 12783842900

PBN: 5e709208878c28a04738ee70

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • [referat, 2008]
  • TytułExperimental determination of relation between helical anisotropy and torsion stress in amorphous magnetic microwires
    AutorzyA. Chizhik, A. Zhukov, J. Blanco, J. Gonzalez, P. GAWROŃSKI, K. KUŁAKOWSKI
    ŹródłoIntermag Europe 2008 : International Magnetic conference : Madrid, May 4 to May 8, 2008 / IEEE Magnetics Society. — [Madrid ; s. n., 2008. — S. 586, DE-4
2
  • [referat w czasopiśmie, 2008]
  • TytułExperimental determination of relation between helical anisotropy and torsion stress in amorphous magnetic microwires
    AutorzyAlexander Chizhik, Arcady Zhukov, Juan Mari Blanco, Julian Gonzalez, Przemysław GAWROŃSKI, Krzysztof KUŁAKOWSKI
    ŹródłoIEEE Transactions on Magnetics. — 2008 vol. 44 no. 11, s. 3938–3941. — tekst: http://ieeexplore-1ieee-1org-1atoz.wbg2.bg.agh.edu.pl/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=4717312
3
4
  • [referat w czasopiśmie, 2008]
  • TytułRelation between surface magnetization reversal and magnetoimpedance in $Co$-rich amorphous microwires
    AutorzyA. Chizhik, C. Garcia, A. Zhukov, J. Gonzalez, P. GAWROŃSKI, K. KUŁAKOWSKI, J. M. Blanco
    ŹródłoJournal of Applied Physics. — 2008 vol. 103 iss. 7, s. 07E742-1–07E742-3. — tekst: http://goo.gl/DNNJhA
5
  • [artykuł w czasopiśmie, 2008]
  • TytułRemanence and switching sensitivity in nanodot magnetic arrays
    AutorzyPrzemysław GAWROŃSKI, Krzysztof KUŁAKOWSKI
    ŹródłoJournal of Nanoscience and Nanotechnology. — 2008 vol. 8 no. 6, s. 2897–2900
6