Amorphous $a-Si_{x}N_{y}:H$ layers on silicon substrate for application in solar cells / Maria JURZECKA, Stanisława JONAS, Stanisława KLUSKA // W: E-MRS 2006 fall meeting : Warsaw (Poland), 4th – 8th September, 2006 : scientific programme and book of abstracts / European Materials Research Society. — [Warsaw : Warsaw University of Technology], [2006]. — S. 38, Poster A/PII.11

Graded ${SiO_{x}N_{y}}$ layers as antireflection coatings for solar cells application / M. Lipiński, S. KLUSKA, H. CZTERNASTEK, P. Zięba // Materials Science (Poland) / Wrocław University of Technology. Centre of Advanced Materials and Nanotechnology ; ISSN 0137-1339. — 2006 vol. 24 no. 4, s. 1009–1016. — Bibliogr. s. 1015–1016. — Intermolecular and magnetic interactions in matter : Nałęczów 8–10 September 2005 : conference / guest eds. Jan M. Olchowik, Wojciech Sadowski, Nikos Guskos ; Wrocław University of Technology. Centre of Advanced Materials and Nanotechnology. — [Wrocław] : Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2006

Struktura warstw a-$SiCN:H$ otrzymywanych metodą RFCVD — Structure of amorphous silicon carbonitride layers (a-$SiCN:H$) obtained by RFCVD method / Stanisława KLUSKA, Stanisława JONAS, Urszula MORYC // Inżynieria Materiałowa ; ISSN 0208-6247. — 2006 R. 27 nr 1, s. 14–18. — Bibliogr. s. 18, Streszcz., Summ.

Wpływ parametrów procesu MWCVD na strukturę i właściwości warstw typu $a-SiC_{x}N_{y}:H$ — Influence of the process parameters of MWCVD on the structure and properties of the $a-SiC_{x}N_{y}:H$ type layers / Stanisława KLUSKA, Stanisława JONAS, Łukasz Kozak // Inżynieria Materiałowa ; ISSN 0208-6247. — 2006 R. 27 nr 5, s. 1057–1060. — Bibliogr. s. 1060, Streszcz., Abstr.. — Opis częśc. wg okł.. — „Nowoczesne technologie w inżynierii powierzchni” : III ogólnopolska konferencja naukowa : Łódź – Spała, 3–6 października 2006 : III krajowa konferencja = III domestic conference / pod red. Zbigniewa Gawrońskiego ; Politechnika Łódzka, Instytut Inżynierii Materiałowej PŁ, Polskie Towarzystwo Materiałoznawcze. — Warszawa : Wydawnictwo Czasopism i Książek Technicznych SIGMA NOT Spółka z o. o. — Protektorat konferencji J. M. Rektor PŁ Prof. dr hab. inż. Jan Krysiński