Wykaz publikacji wybranego autora

Piotr Mietniowski, dr inż.

asystent

* Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki
WEAIiE-ke, * Katedra Elektroniki


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: C-9713-2011

Scopus: brak

OPI Nauka Polska




1
  • Application of Grazing Incidence X-Ray Analysis (GIXA) for multilayer systems
2
  • Application of silicon strip detector for X-ray diffraction on metallic multilayer systems
3
  • Przykłady wykorzystania pozycjo-czułego krzemowego detektora paskowego do badań dyfrakcyjnych układów wielowarstwowych