128 [Hundred twenty eight]-channel silicon strip detector implemented in a powder diffractometer / A. ZIĘBA, W. DĄBROWSKI, P. GRYBOŚ, W. POWROŹNIK, T. STOBIECKI, K. ŚWIENTEK, P. WIĄCEK, J. SŁOWIK // W: EPDIC 8 : 8th [ieghth] European Powder Diffraction Conference : Uppsala, Sweden 23–26 May 2002 : collected abstracts / Uppsala Iniversitet. — [Sweden : UU], [2002]. — S. 97. — Bibliogr. s. 97

Krzemowy detektor paskowy promieniowania X i jego zastosowania w dyfraktometrii — [Silicon strip detector of X-ray radiation and its applications in diffraction measurements] / Andrzej ZIĘBA, Władysław DĄBROWSKI, Paweł GRYBOŚ, Wiesław POWROŹNIK, Jacek SŁOWIK, Tomasz STOBIECKI, Krzysztof ŚWIENTEK, Piotr WIĄCEK // W: XLIV Konwersatorium krystalograficzne : Wrocław, 27–28 VI 2002 = 44\textsuperscript{th} Polish crystallographic meeting. — [Polska : s. n], 2002. — S. 29–30, 0-18. — Bibliogr. s. 30

Nowa kodyfikacja rachunku niepewności pomiaru — [New codification of the estimation of the measurement uncertainty] / Andrzej ZIĘBA // W: Jesienne Warsztaty : jakość w pomiarach wibroakustycznych : Warszawa 17–18 października 2002 r. / Liga Walki z Hałasem, Svantek. — [Polska : s. n.], [2002]. — S. [1–17]

Silicon strip detector applied to X-ray diffraction of thin films and superlattices / T. STOBIECKI, W. DĄBROWSKI, P. GRYBOŚ, J. Kanak, E. KUSIOR, W. POWROŹNIK, J. SŁOWIK, K. ŚWIENTEK, P. WIĄCEK, A. ZIĘBA // W: X-top 2002 : 6\textsuperscript{th} biennial conference on High resolution X-Ray diffraction and imaging : dedicated to the memory of Professor Norio Kato (1923–2002) : Grenoble and Aussois, 10–14 September 2002 : programme abstracts ; list of participants / ESRF European Synchrotron Radiation Facility Grenoble, France ; LMC Laboratoire de Minéralogie Cristallographie de Paris, France. — [France : s. n], 2002. — P126 s. 206. — Bibliogr. P126 s. 206