Wykaz publikacji wybranego autora

Sławomir Kąc, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kip, Katedra Inżynierii Powierzchni i Analiz Materiałów

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-9556-2345 połącz konto z ORCID

ResearcherID: B-7293-2011

Scopus: 55946617200

PBN: 5e70920b878c28a04738f0c1

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [referat w czasopiśmie, 2008]
  • TytułBadania efektów działania wysokiej temperatury, czasu i atmosfery na użytkowe własności powłoki $Al-Si$ na stalowych rurach przeznaczonych na elementy układów wydechowych
    AutorzyKrzysztof ŻABA, Sławomir KĄC
    ŹródłoRudy i Metale Nieżelazne. — 2008 R. 53 nr 11, s. 694–704

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Krzysztof Żaba

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • [artykuł w czasopiśmie, 2008]
  • TytułBadania procesu uzupełniania powłoki $Al-Si$ na stalowych rurach zgrzewanych, przeznaczonych na elementy układów wydechowych
    AutorzyMarcin Szota, Stanisław NOWAK, Krzysztof ŻABA, Sławomir KĄC
    ŹródłoRudy i Metale Nieżelazne. — 2008 R. 53 nr 1, s. 14–19

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Stanisław Nowak, Krzysztof Żaba

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • [referat, 2008]
  • TytułFractal analysis of the scanning-electron microscopy patterns for the BCC/FCC phase separation in the iron-gold alloys
    AutorzyA. Błachowski, K. Ruebenbauer, A. RAKOWSKA, S. KĄC
    ŹródłoEM'2008 : XIII international conference on Electron Microscopy : Zakopane, Poland, 8–11 June 2008 : abstracts. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2008. — S. 34

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Anna Rakowska

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • [referat, 2008]
  • TytułProperties and microstructure of the new ${Fe-Si-P}$-base glass forming alloy
    AutorzyK. Ziewiec, K. Bryła, A. Błachowski, K. Ruebenbauer, K. Prusik, S. KĄC, T. KOZIEŁ
    ŹródłoEM'2008 : XIII international conference on Electron Microscopy : Zakopane, Poland, 8–11 June 2008 : abstracts. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2008. — S. 173

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Kozieł

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • [referat, 2008]
  • TytułPróba oceny odporności na ścieranie stali konstrukcyjnej z wanadem w różnym stanie obróbki cieplnej
    AutorzyR. DĄBROWSKI, E. ROŻNIATA, S. KĄC
    ŹródłoXXXVI Szkoła Inżynierii Materiałowej : Kraków–Krynica, 23–26 IX 2008 / pod red. Jerzego Pacyny ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie. Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej. — [Kraków : AGH. WIMiIP], [2008]. — S. 22–26

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Robert Dąbrowski, Edyta Rożniata

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • [referat, 2008]
  • TytułStructure and properties of ${Bi_{2}O_{3}}$ thin films deposited by PLD technique
    AutorzySławomir KĄC, Małgorzata Kąc
    ŹródłoEM'2008 : XIII international conference on Electron Microscopy : Zakopane, Poland, 8–11 June 2008 : abstracts. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe „Akapit”, cop. 2008. — S. 78

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • [referat w czasopiśmie, 2008]
  • TytułWpływ długości fali promieniowania laserowego na strukturę i własności cienkich warstw $Bi_{2}O_{3}$ wytwarzanych techniką PLD
    AutorzySławomir KĄC, Łukasz CIENIEK
    ŹródłoInżynieria Materiałowa. — 2008 R. 29 nr 6, s. 568–571

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Łukasz Cieniek

    cyfrowy identyfikator dokumentu: