Wykaz publikacji wybranego autora

Beata Dubiel, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kppm, Katedra Plastycznej Przeróbki Metali i Metalurgii Ekstrakcyjnej


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-4917-5437 orcid iD

ResearcherID: GRR-7991-2022

Scopus: 55999375600

PBN: 5e70920b878c28a04738f0a7

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
2
  • [referat, 2012]
  • TytułApplication of ChemiSTEM EDX to elemental mapping of $gamma'$ and $gamma”$ nanoparticles in Inconel 718 superalloy
    AutorzyK. KULAWIK, P. A. BUFFAT, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    Źródłoemc2012 Manchester [Dokument elektroniczny] : proceedings of the 15th European Microscopy Congress : 16th–21st September 2012, Manchester, UK / RMS The Royal Microscopical Society, IFSM International Federation of Societies for Microscopy. — [UK : s. n.], [2012]. — S. [1–2]
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • [referat, 2012]
  • TytułCharacterisation of $gamma - gamma'$ interfaces in Ni-based superalloys by STEM-HAADF and high spatial resolution EDX mapping
    AutorzyB. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    Źródłoemc2012 : proceedings of the 15textsuperscript{th} European Microscopy Congress : 16textsuperscript{th}–21textsuperscript{st} September 2012, Manchester, UK. Vol. 1, Physical sciences: applications / eds. D. J. Stokes, W. M. Rainforth ; RMS Royal Microscopical Society, IFSM International Federation of Societies for Microscopy. — UK : RMS, cop. 2012. — S. 241–242
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • [referat, 2012]
  • TytułHigh spatial resolution EDX mapping of chemical elements partitioning between the $gamma$ and $gamma$' phases in single crystal Ni-base superalloy CMSX-4
    AutorzyB. DUBIEL. A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoC-MAC Days 2012 : 10–13.12.2012 Kraków, Poland : proceedings / eds. M. Lipińska-Chwałek, A. Czyrska-Filemonowicz. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe AKAPIT, 2012. — S. 13
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • [referat, 2012]
  • TytułMetrology and morphology of $gamma$' and $gamma$” nanoparticles in Inconel 718 measured by FIB/SEM tomography
    AutorzyK. KULAWIK, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoSTERMAT 2012 : IX international conference on Stereology and image analysis in materials : 3–6 September, 2012, Zakopane, Poland : program & abstracts. — [Poland : s. n.], [2012]. — S. 9
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • [referat, 2012]
  • TytułPhase transformations in Al alloys during heat treatment investigated by {em in situ} TEM
    AutorzyS. R. K. Malladi, Q. Xu, G. Pandraud, F. D. Tichelaar, H. W. Zandbergen, K. Kulawik, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    Źródłoemc2012 Manchester [Dokument elektroniczny] : proceedings of the 15th European Microscopy Congress : 16th–21st September 2012, Manchester, UK / RMS The Royal Microscopical Society, IFSM International Federation of Societies for Microscopy. — [UK : s. n.], [2012]. — S. [1–2]
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • [referat, 2012]
  • TytułProbe Cs-corrected STEM with ChemiSTEM EDX microanalysis system for characterisation of $gamma$' and $gamma$” nanoparticles strengthening Inconel 718 superalloy
    AutorzyK. KULAWIK, P. A. BUFFAT, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoC-MAC Days 2012 : 10–13.12.2012 Kraków, Poland : proceedings / eds. M. Lipińska-Chwałek, A. Czyrska-Filemonowicz. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe AKAPIT, 2012. — S. 25
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
9
  • [referat, 2012]
  • TytułThe 3D imaging and metrology of CMSX-4 superalloy microstructure using FIB/SEM and STEM-EDX tomography methods
    AutorzyA. KRUK, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    Źródłoemc2012 Manchester [Dokument elektroniczny] : proceedings of the 15th European Microscopy Congress : 16th–21st September 2012, Manchester, UK / RMS The Royal Microscopical Society, IFSM International Federation of Societies for Microscopy. — [UK : s. n.], [2012]. — S. [1–2]
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

10