Wykaz publikacji wybranego autora

Beata Dubiel, dr hab. inż., prof. AGH

profesor nadzwyczajny

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kppm, Katedra Plastycznej Przeróbki Metali i Metalurgii Ekstrakcyjnej

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-4917-5437 orcid iD

ResearcherID: GRR-7991-2022

Scopus: 55999375600

PBN: 5e70920b878c28a04738f0a7

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [referat w czasopiśmie, 2012]
  • Tytuł3D imaging and metrology of yttria dispersoids in INCOLOY MA956 by electron tomography
    AutorzyAdam KRUK, Beata DUBIEL, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoDiffusion and Defect Data – Solid State Data. Part B, Solid State Phenomena. — 2012 vol. 186, s. 37–40. — tekst: http://www.scientific.net/SSP.186.37
2
  • [referat, 2012]
  • TytułApplication of ChemiSTEM EDX to elemental mapping of $gamma'$ and $gamma”$ nanoparticles in Inconel 718 superalloy
    AutorzyK. KULAWIK, P. A. BUFFAT, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    Źródłoemc2012 Manchester [Dokument elektroniczny] : proceedings of the 15th European Microscopy Congress : 16th–21st September 2012, Manchester, UK / RMS The Royal Microscopical Society, IFSM International Federation of Societies for Microscopy. — [UK : s. n.], [2012]. — S. [1–2]
3
  • [referat, 2012]
  • TytułCharacterisation of $gamma - gamma'$ interfaces in Ni-based superalloys by STEM-HAADF and high spatial resolution EDX mapping
    AutorzyB. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    Źródłoemc2012 : proceedings of the 15textsuperscript{th} European Microscopy Congress : 16textsuperscript{th}–21textsuperscript{st} September 2012, Manchester, UK. Vol. 1, Physical sciences: applications / eds. D. J. Stokes, W. M. Rainforth ; RMS Royal Microscopical Society, IFSM International Federation of Societies for Microscopy. — UK : RMS, cop. 2012. — S. 241–242
4
  • [referat, 2012]
  • TytułHigh spatial resolution EDX mapping of chemical elements partitioning between the $gamma$ and $gamma$' phases in single crystal Ni-base superalloy CMSX-4
    AutorzyB. DUBIEL. A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoC-MAC Days 2012 : 10–13.12.2012 Kraków, Poland : proceedings / eds. M. Lipińska-Chwałek, A. Czyrska-Filemonowicz. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe AKAPIT, 2012. — S. 13
5
  • [referat, 2012]
  • TytułMetrology and morphology of $gamma$' and $gamma$” nanoparticles in Inconel 718 measured by FIB/SEM tomography
    AutorzyK. KULAWIK, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoSTERMAT 2012 : IX international conference on Stereology and image analysis in materials : 3–6 September, 2012, Zakopane, Poland : program & abstracts. — [Poland : s. n.], [2012]. — S. 9
6
  • [referat, 2012]
  • TytułPhase transformations in Al alloys during heat treatment investigated by {em in situ} TEM
    AutorzyS. R. K. Malladi, Q. Xu, G. Pandraud, F. D. Tichelaar, H. W. Zandbergen, K. Kulawik, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    Źródłoemc2012 Manchester [Dokument elektroniczny] : proceedings of the 15th European Microscopy Congress : 16th–21st September 2012, Manchester, UK / RMS The Royal Microscopical Society, IFSM International Federation of Societies for Microscopy. — [UK : s. n.], [2012]. — S. [1–2]
7
  • [referat, 2012]
  • TytułProbe Cs-corrected STEM with ChemiSTEM EDX microanalysis system for characterisation of $gamma$' and $gamma$” nanoparticles strengthening Inconel 718 superalloy
    AutorzyK. KULAWIK, P. A. BUFFAT, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoC-MAC Days 2012 : 10–13.12.2012 Kraków, Poland : proceedings / eds. M. Lipińska-Chwałek, A. Czyrska-Filemonowicz. — Kraków : Wydawnictwo Naukowe AKAPIT, 2012. — S. 25
8
  • [referat w czasopiśmie, 2012]
  • TytułTEM analyses of microstructure evolution in ex-service single crystal CMSX-4 gas turbine blade
    AutorzyBeata DUBIEL, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoDiffusion and Defect Data – Solid State Data. Part B, Solid State Phenomena. — 2012 vol. 186, s. 139–142. — tekst: http://www.scientific.net/SSP.186.139.pdf
9
  • [referat, 2012]
  • TytułThe 3D imaging and metrology of CMSX-4 superalloy microstructure using FIB/SEM and STEM-EDX tomography methods
    AutorzyA. KRUK, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    Źródłoemc2012 Manchester [Dokument elektroniczny] : proceedings of the 15th European Microscopy Congress : 16th–21st September 2012, Manchester, UK / RMS The Royal Microscopical Society, IFSM International Federation of Societies for Microscopy. — [UK : s. n.], [2012]. — S. [1–2]
10
  • [referat w czasopiśmie, 2012]
  • TytułThree-dimensional visualization and metrology of nanoparticles in Inconel 718 by electron tomography
    AutorzyKrzysztof KULAWIK, Adam KRUK, Beata DUBIEL, Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ
    ŹródłoDiffusion and Defect Data – Solid State Data. Part B, Solid State Phenomena. — 2012 vol. 186, s. 45–48. — tekst: http://www.scientific.net/SSP.186.45.pdf