Wykaz publikacji wybranego autora

Aleksandra Czyrska-Filemonowicz, prof. dr hab. inż.

emeryt

Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej
WIMiIP-kmm, Katedra Metaloznawstwa i Metalurgii Proszków


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-1013-9757 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 55967022000

PBN: 5e70920b878c28a04738f0a3

OPI Nauka Polska




1
  • Analytical TEM and HRTEM for phase identification in $Ti-Ni-P$ multilayers on $Ti-6Al-4V$ alloy / P. A. Buffat, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: EMC 2004 : 13\textsuperscript{th} European Microscopy Congress : Antwerp, Belgium, August 22–27, 2004 : proceedings. Vol. 2, Materials Sciences / ed. Gustaaf Van Tendeloo. — Liège : Belgian Society for Microscopy, [2004]. — S. 589–590. — Bibliogr. s. 590. — Toż W: EMC 2004 [Dokument elektroniczny] : 13th European Microscopy Congress : August 22–27, 2004, Antwerp, Belgium : proceedings. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Liège : Belgian Society for Microscopy, 2004]. — 1 dysk optyczny. — Opis częśc. wg obwol. — S. 1–2. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Tyt. przejęto z ekranu tytułowego. — Bibliogr. s. 2

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Analytical TEM characterisation of nitrided multilayered titanium-base biomaterials / A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ, P. A. Buffat, T. MOSKALEWICZ, M. ŁUCKI, M. BIEL, W. RAKOWSKI // W: EMC 2004 [Dokument elektroniczny] : 13\textsuperscript{th} European Microscopy Congress : August 22–27, 2004, Antwerp, Belgium : proceedings. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Liège : Belgian Society for Microscopy], [2004]. — 1 dysk optyczny. — Opis częśc. wg obwol.. — S. 1–2. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 2. — Tyt. przejęto z ekranu tytułowego

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Characterization of the $\gamma$-TiAl microstructure by analytical electron microscopy / G. CEMPURA, B. DUBIEL, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: 5\textsuperscript{th} Polish-Japanese symposium on Advanced methods of materials characterization : 29. 08.–2. 09. 2004 Niedzica, Poland : programme and abstracts. — [Kraków : Polish Academy Of Science. Institute of Metallurgy and Materials Science], [2004]. — S. 12–14. — Bibliogr. s. 14

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • Microstructure, surface topography and properties of the Ti-6Al-4V alloy nitrided under glow discharge / A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ, M. ŁUCKI, PA Buffat, T. MOSKALEWICZ, T. Wierzchoń // W: 5\textsuperscript{th} Polish-Japanese symposium on Advanced methods of materials characterization : 29. 08.–2. 09. 2004 Niedzica, Poland : programme and abstracts. — [Kraków : Polish Academy Of Science. Institute of Metallurgy and Materials Science], [2004]. — S. 14–16. — Bibliogr. s. 16

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

5
  • Quantitative TEM metallography and Fourier transform images analysis for determination of $\gamma$' precipitate parameters in single crystal nickel-base superalloy / M. BIEL, F. Diologent, A. Hessel-Wyser, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ, P. A. Buffat // W: EMC 2004 : 13\textsuperscript{th} European Microscopy Congress : Antwerp, Belgium, August 22–27, 2004 : proceedings. Vol. 2, Materials Sciences / ed. Gustaaf Van Tendeloo. — Liège : Belgian Society for Microscopy, [2004]. — S. 693–694. — Bibliogr. s. 694. — Toż na CD-ROMie. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • TEM microstructural investigation of creep deformed single crystal Ni-base superalloy CM186LC / B. DUBIEL, D. Bale, M. Blackler, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: EMC 2004 : 13\textsuperscript{th} European Microscopy Congress : Antwerp, Belgium, August 22–27, 2004 : proceedings. Vol. 2, Materials Sciences / ed. Gustaaf Van Tendeloo. — Liège : Belgian Society for Microscopy, [2004]. — S. 689–690. — Bibliogr. s. 689–690. — Toż na CD-ROMie. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • TEM studies of $⟨001⟩$ oriented single crystal CM186LC superalloy creep deformed at 750°C / B. DUBIEL, P. Grodowski, A. CZYRSKA-FILEMONOWICZ // W: 5\textsuperscript{th} Polish-Japanese symposium on Advanced methods of materials characterization : 29. 08.–2. 09. 2004 Niedzica, Poland : programme and abstracts. — [Kraków : Polish Academy Of Science. Institute of Metallurgy and Materials Science], [2004]. — S. 23–24. — Bibliogr. s. 24

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
  • Żaroodporne i żarowytrzymałe stopy ODS umocnione nanocząstkami tlenków[Heat resistant ODS alloys strengthened by nanoparticles] / Aleksandra CZYRSKA-FILEMONOWICZ, Beata DUBIEL, Anna WASILKOWSKA. — Kraków : FOTOBIT, 2004. — 124 s.. — Bibliogr. s. [107]–121. — ISBN10: 83-917129-4-X

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: