Wykaz publikacji wybranego autora

Andrzej Bernasik, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-2018-0312 orcid iD

ResearcherID: O-9817-2017

Scopus: 55943414500

PBN: 5e709208878c28a04738ee59

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [referat, 2016]
  • TytułEffect of dispersant on the physicochemical and electrochemical properties of the EPD-deposited CNTS layers
    AutorzyAleksandra BENKO, Marek NOCUŃ, Jan WYRWA, Katarzyna BERENT, Andrzej BERNASIK, Marta BŁAŻEWICZ
    ŹródłoCarbon2016 [Dokument elektroniczny] : common fundamentals, remarkably versatile applications : State College, USA, July 10–15 [2016]. — [USA : s. n.], [2016]. — S. 1–3
2
  • [referat, 2016]
  • TytułFullerene derivatives photo-degradation studied by ToF-SIMS
    AutorzyJakub Rysz, Paweł Dabczyński, Rickard Hansson, Leif K. E. Ericsson, Mateusz M. MARZEC, Andrzej BERNASIK, Andrzej Budkowski, Ellen Moons
    ŹródłoSIMS Europe 2016 [Dokument elektroniczny] : [Münster] September 18–20, 2016. — [Münster : s. n.], [2016]. — Ekran 1
3
  • [referat, 2016]
  • TytułImaging and chemical surface analysis of biomolecular functionalization of silicon-based immunosensors
    AutorzyKatarzyna Gajos, Michailia Angelopoulou, Panagiota Petrou, Kamil Awsiuk, Sotirios Kakabakos, Andrzej BERNASIK, Jakub Rysz, Konstantinos Misiakos, Ioannis Raptis, Andrzej Budkowski
    Źródło8th European silicon days : 28–31 August 2016, Poznań, Poland : proceedings, programme, abstracts, list of participants. — Poznań : Wielkopolska Centre for Advanced Technologies ; Adam Mickiewicz University in Poznań, cop. 2016. — S. 144
4
  • [referat, 2016]
  • TytułInterdiffusion of $C_{60}$ fullerence derivative in conjugated polymer thin films under solvent annealing
    AutorzyPaweł Dabczyński, Monika Biernat, Jakub Rysz, Mateusz M. MARZEC, Andrzej BERNASIK, Andrzej Budkowski
    ŹródłoSIMS Europe 2016 [Dokument elektroniczny] : [Münster] September 18–20, 2016. — [Münster : s. n.], [2016]. — Ekran 1
5
  • [referat, 2016]
  • TytułIron oxide-based nanostructures for MRI and magnetic hyperthermia
    AutorzyDorota LACHOWICZ, Agnieszka Kaczyńska, Weronika Górka, Anna Karewicz, Maria Nowakowska, Andrzej BERNASIK, Szczepan Zapotoczny
    ŹródłoTERA'2016 seminar [Dokument elektroniczny] : new materials and techniques in the theranostics of degenerative diseases : 23.09.2016, Kraków, Poland : book of abstracts. — [Kraków : Jagiellonian University], [2016]. — S. L3
6
  • [referat, 2016]
  • TytułMorphology and structure of core-shell polymer microspheres - insight from x-ray photoemission spectroscopy
    AutorzyJ. HABERKO, M. M. MARZEC, A. BERNASIK, M. Gosecka, J. Raczkowska, K. Awsiuk, J. Rysz, A. Budkowski, T. Basinska
    ŹródłoXIPS 2016 : 10textsuperscript{th} International conference on X-ray investigations of polymers structure : book of abstracts : December 6–9 2016 Ustroń, Poland / ed. by Monika Basiura-Cembala, University of Bielsko-Biała, Catholic University of Leuven, Committee on Material Science of the Polish Academy of Sciences. — Bielsko-Biała : Wydawnictwo Naukowe ATH, [2016]. — S. 42–43
7
  • [referat, 2016]
  • TytułOrganic solar cells fabricated by interdiffusion of donor/acceptor bi-layers under solvent vapor annealing
    AutorzyJakub Rysz, Paweł Dabczyński, Rickard Hansson, Leif K. E. Ericsson, Mateusz M. MARZEC, Andrzej BERNASIK, Andrzej Budkowski, Ellen Moons
    ŹródłoSIMS Europe 2016 [Dokument elektroniczny] : [Münster] September 18–20, 2016. — [Münster : s. n.], [2016]. — Ekran 1
8
  • [referat, 2016]
  • TytułRozpylanie jonowe cienkich warstw polimerów syntetycznych - wpływ restrukturyzacji na interpretację profilowania głębokościowego
    AutorzyPaweł Dąbczyński, Jakub Rysz, Mateusz MARZEC, Andrzej BERNASIK, Benedykt Jany, Franciszek Krok, Andrzej Budkowski
    ŹródłoSTM/AFM 2016 : IX seminarium Badania prowadzone metodami skaningowej mikroskopii bliskich oddziaływań oraz IV Szkoła skaningowej mikroskopii i spektroskopii bliskich oddziaływań SPM : Zakopane, 30 listopada–4 grudnia 2016 : streszczenia / Centrum Badań Układów Nanoskopowych i Zaawansowanych Materiałów (Nanometer-scale Science and Advanced Matewrials) - NANOSAM, Instytut Fizyki Uniwersytetu Jagiellońskiego. — [Kraków : s. n.], [2016]. — S. 48
9
  • [referat, 2016]
  • TytułSiloxane copolymers cross-linked with silazanes and siloxanes: comparative studies
    AutorzyJustyna OLEJARKA, Anna Ciężak, Agnieszka ŁĄCZ, Magdalena HASIK, Andrzej BERNASIK, Mateusz MARZEC
    Źródło8th European silicon days : 28–31 August 2016, Poznań, Poland : proceedings, programme, abstracts, list of participants. — Poznań : Wielkopolska Centre for Advanced Technologies ; Adam Mickiewicz University in Poznań, cop. 2016. — S. 194
10
  • [referat, 2016]
  • TytułSuperparamagnetic iron oxide nanoparticles coated with derivatives of polysaccharides with attached curcumin – physicochemical properties
    AutorzyAgnieszka Kaczyńska, Dorota LACHOWICZ, Anna Karewicz, Maria Nowakowska, Andrzej BERNASIK
    ŹródłoTERA'2016 seminar [Dokument elektroniczny] : new materials and techniques in the theranostics of degenerative diseases : 23.09.2016, Kraków, Poland : book of abstracts. — [Kraków : Jagiellonian University], [2016]. — S. P16
11
  • [referat, 2016]
  • TytułThe ion sputtering of polymer thin films – the oxygen influence and structural phenomena in the polystyrene and poly methylmetacrylate thin films
    AutorzyPaweł Dabczyński, Jakub Rysz, Mateusz M. MARZEC, Andrzej BERNASIK, Andrzej Budkowski
    ŹródłoSIMS Europe 2016 [Dokument elektroniczny] : [Münster] September 18–20, 2016. — [Münster : s. n.], [2016]. — Ekran 1
12
  • [referat, 2016]
  • TytułToF-SIMS studies of biomolecular layers in the aspect of biosensor applications
    AutorzyKamil Awsiuk, [et al.], Mateusz M. MARZEC, [et al.], Andrzej BERNASIK, [et al.]
    ŹródłoSIMS Europe 2016 [Dokument elektroniczny] : [Münster] September 18–20, 2016. — [Münster : s. n.], [2016]. — Ekran 1