Wykaz publikacji wybranego autora

Andrzej Bernasik, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-2018-0312 orcid iD

ResearcherID: O-9817-2017

Scopus: 55943414500

PBN: 5e709208878c28a04738ee59

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [referat, 2015]
  • TytułApplication of $Ar-GCIB$ depth profiling with XPS of selected cell lines
    AutorzyM. WYTRWAŁ, M. Woszczek, M. M. MARZEC, S. Prauzner-Bechcicki, M. Lekka, Andrzej BERNASIK
    ŹródłoSIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — S. 103–104
2
  • [referat, 2015]
  • TytułChemical stability of polymers under $Ar-GCIB$ and X-ray irradiation
    AutorzyAndrzej BERNASIK, J. HABERKO, M. M. MARZEC, J. Rysz, W. ŁUŻNY, A. Budkowski
    ŹródłoSIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — S. 95
3
  • [referat, 2015]
  • TytułEffect of PDMS substrate stiffness on cancerous cells growth and adhesion
    AutorzySz. Prauzner-Bechcicki, J. Raczkowska, E. Madej, J. Pabijan, K. Awsiuk, J. Rysz, A. BERNASIK, A. Budkowski, M. Lekka
    Źródło50. Zakopane School of Physics : international symposium : breaking frontiers: submicron structures in physics and biology : May 18textsuperscript{th}–23textsuperscript{th}, 2015, Zakopane, Poland : book of abstracts. — Kraków : IFJ PAN, 2015. — S. 139–140
4
  • [referat w czasopiśmie, 2015]
  • TytułGrowth mechanism of and residual stresses in scales on oxide-dispersion-strengthened $Fe20Cr5Al+Y_{2}O_{3}$ alumina former oxidized at $1000^{circ}$C
    AutorzyJerzy JEDLIŃSKI, Remigiusz GOŁDYN, Jean Luc Grosseau-Poussard, Kazimierz KOWALSKI, Andrzej BERNASIK, Zbigniew Żurek, Günter Borchardt
    ŹródłoAnnales de Chimie Science des Matériaux. — 2015 vol. 39 [n.] 3–4, s. 133–140
5
  • [artykuł w czasopiśmie, 2015]
  • TytułImaging and spectroscopic comparison of multi-step methods to form DNA arrays based on the biotin-streptavidin system
    AutorzyKatarzyna Gajos, Panagiota Petrou, Andrzej Budkowski, Kamil Awsiuk, Andrzej BERNASIK, Konstantinos Misiakos, Jakub Rysz, Ioannis Raptis, Sotirios Kakabakos
    ŹródłoAnalyst. — 2015 vol. 140 iss. 4, s. 1127–1139. — tekst: http://goo.gl/KZ2FXW
6
  • [referat, 2015]
  • TytułInterdiffusion of fullerene derivative into conjugated polymer matrix upon solvent vapor annealing
    AutorzyJakub Rysz, P. Dabczyński, M. M. MARZEC, A. BERNASIK, A. Budkowski
    ŹródłoSIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — S. 125–126
7
  • [artykuł w czasopiśmie, 2015]
  • TytułMeasuring compositions in organic depth profiling: results from a VAMAS interlaboratory study
    AutorzyAlexander G. Shard, [et al.], Andrzej BERNASIK, [et al.], Mateusz M. MARZEC, [et al.]
    ŹródłoJournal of Physical Chemistry. B. — 2015 vol. 119 iss. 33, s. 10784–10797
8
9
  • [artykuł w czasopiśmie, 2015]
  • TytułSynthesis and postpolymerization modification of thermoresponsive coatings based on pentaerythritol monomethacrylate: surface analysis, wettability, and protein adsorption
    AutorzyYurij Stetsyshyn, Joanna Raczkowska, Andrzej Budkowski, Andrij Kostruba, Khrystyna Harhay, Halyna Ohar, Kamil Awsiuk, Andrzej BERNASIK, Nazar Ripak, Joanna Zemła
    ŹródłoLangmuir. — 2015 vol. 31 iss. 35, s. 9675–9683
10
  • [referat, 2015]
  • TytułXPS depth profiling of organic photodetectors with the gas cluster ion beam
    AutorzyJakub HABERKO, M. M. MARZEC, A. BERNASIK, W. ŁUŻNY, P. Lienhard, A. Pereira, J. Faure-Vincent, D. Djurado, A. Revaux
    ŹródłoSIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — S. 94
11
  • [referat, 2015]
  • TytułXPS/UPS depth profiling with gas cluster ion beam for characterization of interfaces in thin multilayer organic structures
    AutorzyMateusz M. MARZEC, J. Rysz, J. HABERKO, A. BERNASIK, A. Budkowski
    ŹródłoSIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — S. 93–94