Wykaz publikacji wybranego autora

Andrzej Bernasik, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-2018-0312 orcid iD

ResearcherID: O-9817-2017

Scopus: 55943414500

PBN: 5e709208878c28a04738ee59

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • [referat, 2013]
  • TytułArgon cluster ion beam depth profiling of organic materials by X-ray photoelectron spectroscopy
    AutorzyAndrzej BERNASIK, Mateusz M. MARZEC, Wojciech ŁUŻNY, Jakub Rysz, Andrzej Budkowski
    ŹródłoWOREN 2013 : 3textsuperscript{rd} Polish-French workshop on Organic electronics and nanophotonics : Muszyna–Złockie, 17–21 February 2013 : book of abstracts / ed.-in-chief Jacek Nizioł, eds. Ewa Gondek, Monika Pokladko-Kowar. — Kraków : Faculty of Physics and Applied Computer Science. AGH University of Science and Technology, 2013. — S. 9
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
3
4
5
6
  • [referat, 2013]
  • TytułOrganic thin films depth profiling with large $Ar_{n}^{+}$ cluster ion beam by X-ray photoelectron spectroscopy
    AutorzyMateusz M. MARZEC, Andrzej BERNASIK, Jakub Rysz, Wojciech ŁUŻNY, Andrzej Budkowski
    ŹródłoWOREN 2013 : 3textsuperscript{rd} Polish-French workshop on Organic electronics and nanophotonics : Muszyna–Złockie, 17–21 February 2013 : book of abstracts / ed.-in-chief Jacek Nizioł, eds. Ewa Gondek, Monika Pokladko-Kowar. — Kraków : Faculty of Physics and Applied Computer Science. AGH University of Science and Technology, 2013. — S. 113
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
8
  • [referat, 2013]
  • TytułSelf-assembled monolayers influence on polymer/metal interfaces examined by means of Kelvin Probe Force Microscopy and secondary ion mass spectrometry
    AutorzyMateusz M. MARZEC, Andrzej BERNASIK, Jakub Rysz, Wojciech ŁUŻNY, Andrzej Budkowski
    ŹródłoWOREN 2013 : 3textsuperscript{rd} Polish-French workshop on Organic electronics and nanophotonics : Muszyna–Złockie, 17–21 February 2013 : book of abstracts / ed.-in-chief Jacek Nizioł, eds. Ewa Gondek, Monika Pokladko-Kowar. — Kraków : Faculty of Physics and Applied Computer Science. AGH University of Science and Technology, 2013. — S. 79
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

9