Wykaz publikacji wybranego autora

Andrzej Bernasik, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-2018-0312 orcid iD

ResearcherID: O-9817-2017

Scopus: 55943414500

PBN: 5e709208878c28a04738ee59

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • Argon cluster ion beam depth profiling of organic materials by X-ray photoelectron spectroscopy
2
  • Argon cluster ion beam depth profiling of polymers by X-ray photoelectron spectroscopy
3
  • Argon gas cluster ion beam in XPS analysis of poly(3-alkylthiophene)s
4
5
  • Characterization of silicon biosensor surfaces with Time of Flight Secondary Ion Mass Spectroscopy
6
  • Cross-linked poly(vinylsiloxanes) as matrices for metallic palladium
7
  • Dipole-dipole interactions at buried polymer/metal interfaces examined with Kelvin Probe Force Microscopy and Secondary Ion Mass Spectrometry
8
  • Examination of polymer/metal interface modified by self-assembled monolayer by Kelvin probe force microscopy and secondary ion mass spectrometry
9
  • Humidity and wetting effects in spin-cast blends of insulating polymers and conducting polyaniline doped with DBSA
10
11
  • Organic thin films depth profiling with large $Ar_{n}^{+}$ cluster ion beam by X-ray photoelectron spectroscopy
12
  • Protein adsorption and covalent bonding to silicon nitride surfaces modified with organo-silanes: comparison using AFM, angle-resolved XPS and multivariate ToF-SIMS analysis
13
  • Self-assembled monolayers influence on polymer/metal interfaces examined by means of Kelvin Probe Force Microscopy and secondary ion mass spectrometry
14