Wykaz publikacji wybranego autora

Andrzej Bernasik, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-2018-0312 orcid iD

ResearcherID: O-9817-2017

Scopus: 55943414500

PBN: 5e709208878c28a04738ee59

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • [referat, 2013]
  • TytułArgon cluster ion beam depth profiling of organic materials by X-ray photoelectron spectroscopy
    AutorzyAndrzej BERNASIK, Mateusz M. MARZEC, Wojciech ŁUŻNY, Jakub Rysz, Andrzej Budkowski
    ŹródłoWOREN 2013 : 3textsuperscript{rd} Polish-French workshop on Organic electronics and nanophotonics : Muszyna–Złockie, 17–21 February 2013 : book of abstracts / ed.-in-chief Jacek Nizioł, eds. Ewa Gondek, Monika Pokladko-Kowar. — Kraków : Faculty of Physics and Applied Computer Science. AGH University of Science and Technology, 2013. — S. 9
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • [referat, 2013]
  • TytułArgon cluster ion beam depth profiling of polymers by X-ray photoelectron spectroscopy
    AutorzyA. BERNASIK, M. M. MARZEC, J. HABERKO, W. ŁUŻNY, J. Rysz, A. Budkowski
    ŹródłoXIPS 2013 : IX international conference on X-ray investigations of polymer structure : Zakopane, Poland, 3–6 December 2013 : book of abstracts / ed. by Monika Basiura-Cembala ; University of Bielsko-Biała, Catholic University of Leuven, Committee on Material Science of the Polish Academy of Sciences. — Bielsko-Biała : Wydawnictwo Naukowe ATH, [2013]. — S. 38
  • keywords: polymer, sputtering, XPS, GCIB

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • [referat, 2013]
  • TytułArgon gas cluster ion beam in XPS analysis of poly(3-alkylthiophene)s
    AutorzyA. BERNASIK, M. M. MARZEC, J. Rysz, W. ŁUŻNY, A. Budkowski
    ŹródłoECASIA'13 : 15th European conference on Applications of surface and interface analysis : 13textsuperscript{th} – 18textsuperscript{th} October 2013 Cagliari, Sardinia (Italy) / ed. A. Rossi, B. Elsener ; Dipartimento di Scienze Chimiche e Geologiche Università di Cagliari, Sardinia, Italy. — [Cagliari : s. n.], [2013]. — S. 80
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
5
  • [referat, 2013]
  • TytułCharacterization of silicon biosensor surfaces with Time of Flight Secondary Ion Mass Spectroscopy
    AutorzyJ. Rysz, K. Awsiuk, K. Fornal, P. Petrou, A. Budkowski, A. BERNASIK, S. Kakabakos, M. M. MARZEC, I. Raptis
    ŹródłoSIMS-19 : the 19th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 29–October 4, 2013, ICC Jeju, Jeju, Korea : program and abstracts. — [Korea : s. n.], 2013. — S. 147
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

6
  • [referat, 2013]
  • TytułCross-linked poly(vinylsiloxanes) as matrices for metallic palladium : [abstract]
    AutorzyM. WÓJCIK-BANIA, J. Olejarka, M. HASIK, A. BERNASIK, A. Krowiak, J. Strzezik
    ŹródłoFrontiers in polymer science [Dokument elektroniczny] : in association with the Journal Polymer : third international symposium : 21–23 May 2013, Sitges, Spain. — [Spain : s. n.], [2013]. — S. 59
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7
  • [referat, 2013]
  • TytułDipole-dipole interactions at buried polymer/metal interfaces examined with Kelvin Probe Force Microscopy and Secondary Ion Mass Spectrometry
    AutorzyM. M. MARZEC, A. BERNASIK, J. Rysz, W. ŁUŻNY, A. Budkowski
    ŹródłoSIMS-19 : the 19th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 29–October 4, 2013, ICC Jeju, Jeju, Korea : program and abstracts. — [Korea : s. n.], 2013. — S. 155
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

8
9
10
11
  • [referat, 2013]
  • TytułOrganic thin films depth profiling with large $Ar_{n}^{+}$ cluster ion beam by X-ray photoelectron spectroscopy
    AutorzyMateusz M. MARZEC, Andrzej BERNASIK, Jakub Rysz, Wojciech ŁUŻNY, Andrzej Budkowski
    ŹródłoWOREN 2013 : 3textsuperscript{rd} Polish-French workshop on Organic electronics and nanophotonics : Muszyna–Złockie, 17–21 February 2013 : book of abstracts / ed.-in-chief Jacek Nizioł, eds. Ewa Gondek, Monika Pokladko-Kowar. — Kraków : Faculty of Physics and Applied Computer Science. AGH University of Science and Technology, 2013. — S. 113
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

12
13
  • [referat, 2013]
  • TytułSelf-assembled monolayers influence on polymer/metal interfaces examined by means of Kelvin Probe Force Microscopy and secondary ion mass spectrometry
    AutorzyMateusz M. MARZEC, Andrzej BERNASIK, Jakub Rysz, Wojciech ŁUŻNY, Andrzej Budkowski
    ŹródłoWOREN 2013 : 3textsuperscript{rd} Polish-French workshop on Organic electronics and nanophotonics : Muszyna–Złockie, 17–21 February 2013 : book of abstracts / ed.-in-chief Jacek Nizioł, eds. Ewa Gondek, Monika Pokladko-Kowar. — Kraków : Faculty of Physics and Applied Computer Science. AGH University of Science and Technology, 2013. — S. 79
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

14