Application of secondary ion mass spectrometry in the investigation of diffusion in ceramics / K. KOWALSKI, A. BERNASIK, A. SADOWSKI, J. JEDLIŃSKI // W: Mass and charge transport in inorganic materials: fundamentals to devices : international conference : May 28–June 2, 2000 Venice – Jesolo Lido : final programme & abstracts / eds. P. Vincenzini, V. Buscaglia. — [S. l : Techna Srl], [2000]. — (International Conferences Materials and Technologies). — S. 573–580. — Bibliogr. s. 580

The use of combined approach: sequential exposure and high-resolution SIMS to determine the oxidation mechanism of $\beta$-NiAl and FeCrAl alumina formers : [abstract] / J. JEDLIŃSKI, A. BERNASIK, J. Camra, M. Konopka, K. KOWALSKI, M. NOCUŃ // W: Reaktywność ciał stałych : materiały XII seminarium francusko-polskiego : Kraków 2000 = Reactivity of solids : proceedings of the 12\textsuperscript{th} French-Polish seminar / pod red. K. Przybylskiego ; PAN. Oddział w Krakowie ; PTC. — Kraków : PTC, 2000. — (Polski Biuletyn Ceramiczny = Polish Ceramic Bulletin / Polskie Towarzystwo Ceramiczne) ; (Prace Komisji Nauk Ceramicznych / Polska Akademia Nauk. Oddział w Krakowie) ; (Ceramika ; ISSN 0075-7012 ; vol. 61). — ISBN10: 83-7108-076-X. — S. [235]