profesor zwyczajny
Faculty of Materials Science and Ceramics WIMiC-kfmp
ORCID: brak
ResearcherID: brak
Scopus: brak
OPI Nauka Polska
Model studies of microstructure changes in sintering of ceramics / Stanisława JONAS, Andrzej KOLEŻYŃSKI, Jerzy LIS, Paweł STOCH, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH // Diffusion and Defect Data – Solid State Data. Part B, Solid State Phenomena ; ISSN 1012-0394. — 2009 vol. 147–149, s. 890–895. — Bibliogr. s. 895, Abstr.. — Mechatronic Systems and Materials III / eds. Zdzisław Gosiewski, Zbigniew Kulesza. — Switzerland : Trans Tech Publications, cop. 2009. — tekst: http://www.scientific.net/SSP.147-149.890.pdf
keywords: ceramic sintering, microstructure of ceramics, packing density, rearrangement of powders, mechanisms of solid-state sintering
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Jerzy Lis, Katarzyna Tkacz-Śmiech, Andrzej Koleżyński, Paweł Stoch
cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.4028/www.scientific.net/SSP.147-149.890
Silicon nitride layers of various n-content: technology, properties and structure modelling / Maria JURZECKA-SZYMACHA, Piotr BOSZKOWICZ, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH, Stanisława JONAS // W: ICCS15 [Dokument elektroniczny] : 15\textsuperscript{th} International conference on Composite Structures : Porto, Portugal, June 15–17, 2009. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Portugal : s. l.], [2009]. — 1 dysk optyczny. — S. 1–3. — Wymagania systemowe: Adobe Reader ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. s. 3, Summ.
brak zdefiniowanych słów kluczowych
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Katarzyna Tkacz-Śmiech, Maria Jurzecka-Szymacha, Piotr Boszkowicz
cyfrowy identyfikator dokumentu:
Stability of $a-C:N:H$ layers deposited by RF plasma enhanced CVD / Stanisława JONAS, Karol KYZIOŁ, Jerzy LIS, Katarzyna TKACZ-ŚMIECH // Diffusion and Defect Data – Solid State Data. Part B, Solid State Phenomena ; ISSN 1012-0394. — 2009 vol. 147–149, s. 738–743. — Bibliogr. s. 743, Abstr.. — Mechatronic Systems and Materials III / eds. Zdzisław Gosiewski, Zbigniew Kulesza. — Switzerland : Trans Tech Publications, cop. 2009. — tekst: http://www-1scientific-1net-1atoz.wbg2.bg.agh.edu.pl/SSP.147-149.738.pdf
keywords: RF CVD, IR spectroscopy, layer technology, a-CNH layers
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Jerzy Lis, Katarzyna Tkacz-Śmiech, Karol Kyzioł
cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.4028/www.scientific.net/SSP.147-149.738