Wykaz publikacji wybranego autora

Andrzej Baczmański, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej
WFiIS-kfms, Katedra Fizyki Materii Skondensowanej

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk ścisłych / dziedzina nauk fizycznych / fizyka

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-6137-8822 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 55894710500

PBN: 5e709208878c28a04738ee57

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [referat, 2000]
  • TytułDifferent methods of slip system selection used in plastic deformation models
    AutorzyA. BACZMAŃSKI, P. Zattarin, P. Lipiński, K. WIERZBANOWSKI
    ŹródłoJSTMM2000 : les troisiémes journées scientifiques et techniques de mécanique et matériaux : approches multi-échelles, pour l'étude du comportement mécanique des matériaux de structure : 2–3 novembre 2000 Hammamet – Tunisie. — [Tunis : UT], [2000]. — S. 33-1–33-7
2
  • [referat, 2000]
  • TytułInfluence of texture on mechanical stiffness coeffitients in tin coatings
    AutorzyS. J. SKRZYPEK, W RATUSZEK, A. BACZMAŃSKI
    ŹródłoXVIII conference on Applied crystallography : 4–7 September 2000 Katowice–Wisła, Poland and Rietveld method workshop : 7–9 September 2000 / University of Silesia ; Committee of Crystallography and Committee of Material Science of Polish Academy od Sciences. — [Katowice : UŚ], [2000]. — S. 99
3
  • [referat, 2000]
  • TytułProblem of elastic anisotropy in stress measurement using graizing angle scattering geometry
    AutorzyA. BACZMAŃSKI, S. J. SKRZYPEK
    ŹródłoMECA-SENS 2000 : stress evaluation by neutron and synchrotron radiation : international conference : 13–14 December 2000 Reims : abstracts. — [France : s. n.], [2000]. — S. 40
4
  • [referat, 2000]
  • TytułProgress in the X-ray diffraction of the residual macro-stresses determination related to surface layer gradients and anisotropy
    AutorzyS. J. SKRZYPEK, A. BACZMAŃSKI
    Źródło49textsuperscript{th} Annual Denver X-ray conference : 31 July–4 August 2000 : abstracts / International Centre for Diffraction Data. — [USA : s. n. : ICDD], [2000]. — S. 155
5
  • [referat, 2000]
  • TytułResidual macrostresses of metal plates after laser forming
    AutorzyS. J. SKRZYPEK, Z. Wesołowski, A. BACZMAŃSKI, E. KUSIOR
    ŹródłoXVIII conference on Applied crystallography : 4–7 September 2000 Katowice–Wisła, Poland and Rietveld method workshop : 7–9 September 2000 / University of Silesia ; Committee of Crystallography and Committee of Material Science of Polish Academy od Sciences. — [Katowice : UŚ], [2000]. — S. 34
6
  • [referat, 2000]
  • TytułResidual stress by neutron diffraction and numerical modelling in austeno-ferrictic steel
    AutorzyD. Gigout, A. BACZMAŃSKI, C. Ohms, A. Youtsos, A. Lodini
    ŹródłoMECA-SENS 2000 : stress evaluation by neutron and synchrotron radiation : international conference : 13–14 December 2000 Reims : abstracts. — [France : s. n.], [2000]. — S. 17
7
  • [referat, 2000]
  • TytułThermal microstresses determined using diffraction and self-consistent model
    AutorzyA. BACZMAŃSKI, S. SKRZYPEK, K. WIERZBANOWSKI, P. Lipinski
    ŹródłoMECA-SENS 2000 : stress evaluation by neutron and synchrotron radiation : international conference : 13–14 December 2000 Reims : abstracts. — [France : s. n.], [2000]. — S. 16