Wykaz publikacji wybranego autora

Tomasz Twardowski, dr inż.

adiunkt

* Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki
WEAIiE-km, * Katedra Metrologii

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

OPI Nauka Polska

1

  • Optimization of a real identification system / J. GAJDA, T. TWARDOWSKI // W: IMEKO 2000 [International Measurement Confederation] : XVI IMEKO world congress : Sept. 25–28, 2000 Vienna : proceedings. Vol 9, Top. 21 : Estimation of uncertainty and errors in measurement ; Top. 23 : Expert systems in decision making ; Top. 24 : Evaluation of measurement results ; Top. 29 :X-ray techniques ; Top. 30 : Artificial intelligence in measurement techniques / eds. A. Afjehi-Sadat, M. N. Durakbasa, P. H. Osanna. — Wien : Abteilung Austauschbau und Messtechnik, 2000. — S. 89–94. — Bibliogr. s. 94, Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Janusz Gajda

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2

  • Quality criteria and design of biased identification experiment / Tomasz TWARDOWSKI // W: SYSID 2000 [Dokument elektroniczny] : Symposium on System Identification : Santa Barbara, California June 21–23, 2000 / IFAC [International Federation of Automatic Control]. — Wersja dla Acrobat Reader. — Dane tekstowe. — [USA : s. n.] : OMNIPRESS, 2000. — 1 dysk optyczny. — Ekran [1–4]. — Wymagania systemowe: Acrobat Reader 4.0 ; napęd CD-ROM. — Bibliogr. ekran [4], Abstr.

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: