Analiza niepewności wyniku identyfikacji parametrycznej — [Analysis of the uncertainty of parameters identification] / Tomasz TWARDOWSKI // W: Metrologia wspomagana komputerowo MWK'99 : IV [czwarta] szkoła–konferencja : Rynia k/Warszawy 7–10 czerwca 1999. T. 2, Referaty. — Stare Babice k. Warszawy : „Bilgraf”, [1999]. — S. 31–36. — Bibliogr. s. 36

O jakości procesu identyfikacji parametrycznej — On quality of parametric identification process / Tomasz TWARDOWSKI // W: Modelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały IX sympozjum : Krynica, 20–24 września 1999 / Akademia Górniczo-Hutnicza. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Zakład Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo ZM AGH, 1999. — ISBN10: 83-908295-3-3. — S. 23–30. — Bibliogr. s. 30, Streszcz.