Wykaz publikacji wybranego autora

Jacek Nalepa, dr inż.

adiunkt

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

OPI Nauka Polska

1
  • [referat, 2000]
  • TytułModelling and simulation of measuring systems using the simulink specialised toolbox
    AutorzyJ. NALEPA
    ŹródłoIMEKO 2000 [International Measurement Confederation] : XVI IMEKO world congress : Sept. 25–28, 2000 Vienna : proceedings. Vol. 5, Top. 7 : Measurement science ; Top. 8 : Traceability in metrology ; Top. 11 : Metrological infrastructur / eds. A. Afjehi-Sadat, M. N. Durakbasa, P. H. Osanna. — Wien : Abteilung Austauschbau und Messtechnik, 2000. — S. 141–146

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • [referat, 2000]
  • TytułOprogramowanie wspomagające laboratorium „Podstaw Metrologii”
    AutorzyJacek NALEPA
    ŹródłoXXXII [Trzydziesta druga] Międzyuczelniana Konferencja Metrologów : MKM'2000 : Rzeszów–Jawor, 11–15 września 2000 r., T. 1 / red. Roman Tabisz z zespołem: Barbara Wilk, Włodzimierz Stec, Anna Szlachta ; Politechnika Rzeszowska. Wydział Elektryczny. Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych. — Rzeszów : Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej, 2000. — S. 117–120

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • [referat, 2000]
  • TytułWstępne badania symulacyjne korekcji dynamicznej metodą „w ciemno”
    AutorzyJacek NALEPA
    ŹródłoModelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały X jubileuszowego sympozjum : Krynica, 18–22 września 2000 / Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Zakład Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Zakładu Metrologii AGH, 2000. — S. 243–248

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: