Badania symulacyjne systemu korekcji dynamicznej metodą „w ciemno” przy autoidentyfikacji charakterystyk statycznych obu korygowanych torów — Simulation investigation of the “blind” dynamic correction system with static characteristic auto-identification in both channels / Jacek NALEPA // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2007 vol. 53 nr 9bis, s. 220–223. — Bibliogr. s. 223, Streszcz., Abstr.. — Kongres Metrologii „Metrologia – narzędzie poznania i droga rozwoju” : Kraków 9–13 września 2007, T. 1 / SIiTMP SM, PSPAiR POLSPAR. — Warszawa : Agenda Wydawnicza SIMP, 2007 + CD-ROM. — Na okł. dodatkowo: 50 Lat Katedry Metrologii AGH, 55 Lat Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki

Podsumowanie badań symulacyjnych systemu korekcji dynamicznej metodą równoważności pomiaru dwoma torami — Dynamic error correction by equivalence method of the measurement with two channels – summary of simulation experiments / Jacek NALEPA // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2010 vol. 56 nr 8, s. 887–889. — Bibliogr. s. 889, Streszcz., Abstr.

Przedmioty metrologiczne w programach dwustopniowych studiów na kierunku Elektrotechnika na Wydziale EAIiE AGH — Metrology courses for under and postgraduate studies in Electrical Engineering at the Faculty of EAIiE of AGH UST / Jacek NALEPA // Pomiary, Automatyka, Kontrola / Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich. Sekcja Metrologii, Polskie Stowarzyszenie Pomiarów Automatyki i Robotyki POLSPAR ; ISSN 0032-4140. — 2008 vol. 54 nr 12, s. 892–894. — Bibliogr. s. 894, Streszcz., Abstr.