Wykaz publikacji wybranego autora

Jerzy Nabielec, dr inż.

adiunkt

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kmie, Katedra Metrologii i Elektroniki

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektrotechnika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-8185-9479 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 7801484412

PBN: 5e70922c878c28a04739119f

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [referat, 2003]
  • TytułDynamic error correction for measurement system with differentiating sensors
    AutorzyJerzy NABIELEC, Barbara BISZTYGA
    ŹródłoXVII IMEKO world congress : metrology in the 3textsuperscript{rd} Millennium : June 22–27, 2003 Dubrovnik, Croatia : book of summaries / eds. Damir Ilić, Mladen Boršić, Josip Butorac ; IMEKO International Measurement Confederation, HMD Croatian Metrology Society. — [Dubrovnik] : Croatian Metrology Society : International Measurement Confederation, cop. 2003. — S. 95

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Barbara Bisztyga

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • [referat, 2003]
  • TytułKorekcja „w ciemno” przetworników I rzędu
    AutorzyJerzy NABIELEC
    ŹródłoModelowanie i symulacja systemów pomiarowych : materiały XIII sympozjum : Krynica, 8–11 września 2003 / pod red. Janusza Gajdy ; Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica. Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki. Katedra Metrologii. — Kraków : Wydawnictwo Katedry Metrologii AGH, 2003. — S. 87–94

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • [referat, 2003]
  • TytułLabVIEW w dydaktyce Zakładu Metrologii AGH
    AutorzyJerzy NABIELEC
    ŹródłoXXXV MKM 2003 : XXXV Międzyuczelniana Konferencja Metrologów : Kraków, 8–11 września 2003 r. / materiały pod red. Janusza Gajdy. — Kraków : Wydawnictwo Katedry Metrologii AGH, 2003. — S. 275–278

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • [referat, 2003]
  • TytułThe “blind” method of dynamic error correction for the second order system
    AutorzyJerzy NABIELEC, Jacek NALEPA
    ŹródłoXVII IMEKO world congress : metrology in the 3textsuperscript{rd} Millennium : June 22–27, 2003 Dubrovnik, Croatia : book of summaries / eds. Damir Ilić, Mladen Boršić, Josip Butorac ; IMEKO International Measurement Confederation, HMD Croatian Metrology Society. — [Dubrovnik] : Croatian Metrology Society : International Measurement Confederation, cop. 2003. — S. 93

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Jacek Nalepa

    cyfrowy identyfikator dokumentu: