Wykaz publikacji wybranego autora

Tomasz Stobiecki, prof. dr hab.

profesor zwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki

  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne (50%)

  • 2020

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika (50%)

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0001-7380-2897 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 7004809636

PBN: 5e70922c878c28a0473911f7

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [referat w czasopiśmie, 2008]
  • TytułApplication of silicon strip detector for X-ray diffraction on metallic multilayers
    AutorzyP. MIETNIOWSKI, J. KANAK, W. POWROŹNIK, T. STOBIECKI, P. MAJ, P. GRYBOŚ
    ŹródłoArchives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science. — 2008 vol. 53 iss. 1 spec. iss., s. 75–81

  • keywords: texture, X-ray diffraction, multi-layers, strip detector of X-ray diffractometer

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wiesław Powroźnik, Paweł Leonard Gryboś, Piotr Mietniowski, Jarosław Kanak, Piotr Maj

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • [artykuł w czasopiśmie, 2008]
  • TytułInfluence of interface roughness, film texture, and magnetic anisotropy on exchange bias in $[Pt/Co]_{3}/IrMn$ and $IrMn/[Co/Pt]_{3}$ multilayers
    AutorzyJarosław KANAK, Tomasz STOBIECKI, Sebastiaan van Dijken
    ŹródłoIEEE Transactions on Magnetics. — 2008 vol. 44 no. 2, s. 238–245

  • keywords: magnetic anisotropy, exchange bias, Co/Pt multilayer

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Jarosław Kanak

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/TMAG.2007.909438

3
4
  • [referat w czasopiśmie, 2008]
  • TytułStructural and tunneling properties of magnetic tunnel junctions with Al-O and MgO barrier
    AutorzyJ. KANAK, T. STOBIECKI, A. Thomas, J. Schmalhorst, G. Reiss
    ŹródłoVacuum : Surface Engineering, Surface Instrumentation & Vacuum Technology. — 2008 vol. 82 iss. 10 spec. iss., s. 1057–1061

  • keywords: texture, X-ray diffraction, MTJ, surface roughness, interface roughness, TMR

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Jarosław Kanak

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.vacuum.2008.01.034

5
6
  • [artykuł w czasopiśmie, 2008]
  • TytułZastosowanie niskokątowej analizy promieniowania X (GIXA) do badań układów cienkowarstwowych
    AutorzyPiotr Mietniowski, Wiesław POWROŹNIK, Jarosław KANAK, Tomasz STOBIECKI, Piotr Kuświk
    ŹródłoElektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa). — 2008 R. 49 nr 1, s. 48–51

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Wiesław Powroźnik, Jarosław Kanak

    cyfrowy identyfikator dokumentu: