Wykaz publikacji wybranego autora

Tomasz Stapiński, prof. dr hab.

profesor zwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-8386-8002 połącz konto z ORCID

ResearcherID: brak

Scopus: 6701524007

PBN: 5e70922c878c28a0473911f3

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)




1
  • [referat w czasopiśmie, 2002]
  • TytułChemical vapour infiltration of SiC in porous graphite materials
    AutorzyE. WALASEK, S. JONAS, T. STAPIŃSKI, S. KLUSKA, A. CZYŻEWSKA
    ŹródłoKey Engineering Materials. — 2002 vols. 206–213, s. 567–570
2
  • [referat, 2002]
  • TytułInvestigation of solar cells under varying illumination
    AutorzyPiotr WÓJCIK, Tadeusz PISARKIEWICZ, Tomasz STAPIŃSKI, Marek Lipiński, Piotr Panek
    Źródło20 [Twenty] years IMAPS Poland 1982–2002 : XXVI [twenty sixth] international conference of International Microelectronics and Packaging Society. Poland Chapter : Warsaw, 25–27 September 2002 : proceedings / ed. Ryszard Kisiel ; IMAPS. Poland Chapter. — [Poland : IMAPS. Poland Chapter], [2002]. — S. 231–234
3
  • [referat, 2002]
  • TytułPhotoconductivity decay in thin film solar cell structures
    AutorzyP. WÓJCIK, T. PISARKIEWICZ, T. STAPIŃSKI
    ŹródłoIMAPS Europe Cracow 2002 : European microelectronics packaging & interconnection symposium : 16–18 June 2002 Cracow, Poland : proceedings / eds. A. Dziedzic, L. J. Golonka ; International Microelectronics and Packaging Society. Poland Chapter. — [Poland] : IMAPS. Poland Chapter, 2002. — S. 350–352
4
  • [referat w czasopiśmie, 2002]
  • TytułPreparation and properties of $a-C:H$ and $a-C:N:H$ layers
    AutorzyS. JONAS, T. STAPIŃSKI, E. WALASEK, A. Hilbig, I. ŁAGOSZ, G. KRUPA
    ŹródłoKey Engineering Materials. — 2002 vols. 206–213, s. 571–574