Wykaz publikacji wybranego autora

Jerzy Sokulski, mgr inż.

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki

2023
[dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne
2018
[dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

Identyfikatory Autora	Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych
ORCID: 0000-0002-8046-7721 ResearcherID: brak Scopus: brak PBN: 5e7094cb878c28a0473c3ee5	System Informacyjny AGH (SkOs)

Identyfikatory Autora

Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-8046-7721 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: brak

PBN: 5e7094cb878c28a0473c3ee5

wydruk:

sortowanie:

1

AFM studies of RF sputtered and annealed tungsten trioxide thin films in view of gas sensors applications
AFM studies of RF sputtered and annealed tungsten trioxide thin films in view of gas sensors applications / Jerzy SOKULSKI, Jarosław KANAK, Wojciech MAZIARZ, Henryk JANKOWSKI, Tadeusz PISARKIEWICZ // W: Microelectronic materials and technologies, Vol. 1 / monograph ed. Zbigniew Suszyński. — Koszalin : Wydawnictwo Uczelniane Politechniki Koszalińskiej, 2012. — (Monografie / Wyższa Szkoła Inżynierska w Koszalinie ; ISSN 0239-7129 ; no. 231). — S. 113–124. — Bibliogr. s. 124

2

Grubowarstwowy katalityczny detektor jonizacyjny do mikroanalizatorów
Grubowarstwowy katalityczny detektor jonizacyjny do mikroanalizatorów — [Thick-film catalytic ionic detector for microsystems] / Zbigniew MAGOŃSKI, Barbara DZIURDZIA, Stanisław Nowak, Henryk JANKOWSKI, Jerzy SOKULSKI // W: COE 2006 : Czujniki Optoelektroniczne i Elektroniczne : IX konferencja naukowa : Kraków – Zakopane 19–22 czerwca 2006 : materiały konferencyjne / kom. red.: Elżbieta Schabowska-Osiowska, Teresa Kenig, Wojciech Maziarz ; AGH, PTTS. — Kraków : Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki Akademii Górniczo-Hutniczej, 2006. — S. 493–496. — Bibliogr. s. 496, Streszcz., Summ.

3

Grubowarstwowy katalityczny detektor jonizacyjny do mikroanalizatorów
Grubowarstwowy katalityczny detektor jonizacyjny do mikroanalizatorów — Thick-film catalytic ionic detector for microanalyzers / Zbigniew MAGOŃSKI, Barbara DZIURDZIA, Stanisław Nowak, Henryk JANKOWSKI, Jerzy SOKULSKI // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2007 R. 48 nr 3, s. 19–20. — Bibliogr. s. 20

4

\emph {Horror vacui} i jubileusz
\emph {Horror vacui} i jubileusz — [{\it Horror vacui} and the jubilee] / Henryk JANKOWSKI, Jerzy SOKULSKI // W: Fizyka i jej zastosowania 24–25 czerwca 1999 : konferencja : Kraków : streszczenia = Physics and its applications 24–25 June 1999 : abstracts. — [Kraków : AGH], [1999]. — Na obwol. także: 80 lat Akademii Górniczo-Hutniczej. — S. 49. — Pełny tekst W: Fizyka i jej zastosowania = Physics and its applications : konferencja = conference : Kraków 24–-25 czerwca 1999 : materiały konferencyjne / red. Krzysztof Wierzbanowski ; Wydział Fizyki i Techniki Jądrowej AGH. — Kraków : Wydział Fizyki i Techniki Jądrowej AGH, 1999. — S. 151–156. — Bibliogr. s. 156

5

Influence of indium dilution level on magnetic properties and photoconductivity of $Cd_{1-y}Cr_{2-2x}In_{2x+y}Se_{4}$ magnetic semiconductors
Influence of indium dilution level on magnetic properties and photoconductivity of $Cd_{1-y}Cr_{2-2x}In_{2x+y}Se_{4}$ magnetic semiconductors / B. T. CIĘCIWA, L. J. MAKSYMOWICZ, M. LUBECKA, H. JANKOWSKI, J. SOKULSKI, Z. SOBKÓW // Materials Science (Poland) / Wrocław University of Technology. Centre of Advanced Materials and Nanotechnology ; ISSN 0137-1339. — 2003 vol. 21 no. 1, s. 99–106. — Bibliogr. s. 106, Abstr.. — 7th Korean-Polish joint seminar on Physical properties of magnetic materials : Warszawa, Poland, 1–5 December 2002

6

Magnetic semiconductor thin films of $CdCr_{2-2x}In_{2x}Se_{4}$ photoconductivity
Magnetic semiconductor thin films of $CdCr_{2-2x}In_{2x}Se_{4}$ photoconductivity / H. JANKOWSKI, B. T. CIĘCIWA, W. POWROŹNIK, J. SOKULSKI // W: The sixth Korean-Polish joint seminar on Physical properties of magnetic materials : June 12–15, 2000 Poznań-Będlewo : program and abstracts / Polish Academy of Sciences. Institute of Molecular Physics ; Institute of Physics. — Poznań : Ośrodek Wydawnictw Naukowych PAS, 2000. — S. 10. — Bibliogr. s. 10

7

Magnetic semiconductor thin films of $CdCr_{2-2x}In_{2x}Se_{4}$-photoconductivity
Magnetic semiconductor thin films of $CdCr_{2-2x}In_{2x}Se_{4}$-photoconductivity / H. JANKOWSKI, B. T. CIĘCIWA, W. POWROŹNIK, J. SOKULSKI // Molecular Physics Reports ; ISSN 1505-1250. — 2001 vol. 32, s. 9–11. — Bibliogr. s. 11, Abstr.. — 6th Korean-Polish joint seminar on physical properties of magnetic materials : Bedlewo, Poland, 12–15 June 2000

8

Techniki rozpylania magnetronowego DC, MF i RF do nanoszenia cienkich warstw $WO_{3}$
Techniki rozpylania magnetronowego DC, MF i RF do nanoszenia cienkich warstw $WO_{3}$ : [streszczenie] — [DC, MF and RF magnetron sputtering techniques for $WO_{3}$ thin films depositing] / Henryk JANKOWSKI, Konstanty MARSZAŁEK, Jerzy SOKULSKI, Yevhen Zabila, Tomasz Stapiński // W: Jedenasta krajowa konferencja elektroniki : Darłowo, 11–14.06.2012 : materiały konferencji. — Koszalin : [s. n.], 2012. — Opis częśc. wg okładki. — ISBN: 978-83-934712-0-1. — S. 45. — Pełny tekst W: Jedenasta krajowa konferencja elektroniki [Dokument elektroniczny] : Darłowo, 11–14.06.2012 : materiały konferencji. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Koszalin : s. n., 2012]. — 1 dysk optyczny. — S. 95–100. — Wymagania systemowe: Adobe Acrobat Reader ; napęd CD-ROM. — Tytuł przejęto z ekranu tyt. — Bibliogr. s. 100, Streszcz.. — Henryk Jankowski, Konstanty Marszałek, Jerzy Sokulski - afiliacja: Katedra Elektroniki, Akademia Górniczo-Hutnicza, Kraków

9

Techniki rozpylania magnetronowego DC, MF i RF do nanoszenia cienkich warstw $WO_{3}$
Techniki rozpylania magnetronowego DC, MF i RF do nanoszenia cienkich warstw $WO_{3}$ — DC, MF and RF magnetron sputtering techniques for $WO_{3}$, thin films deposition / Henryk JANKOWSKI, Konstanty MARSZAŁEK, Jerzy SOKULSKI, Yevhen Zabila, Tomasz STAPIŃSKI // Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania (Warszawa) ; ISSN 0033-2089. — Tytuł poprz.: Przegląd Elektroniki. — 2012 t. 53 nr 10, s. 79–81. — Bibliogr. s. 81