Wykaz publikacji wybranego autora

Wiesław Powroźnik, mgr

specjalista

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki

  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0003-2235-8209 orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 6603031317

PBN: 5e7094cb878c28a0473c3ee3

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
  • [referat, 2002]
  • Tytuł128 [Hundred twenty eight]-channel silicon strip detector implemented in a powder diffractometer
    AutorzyA. ZIĘBA, W. DĄBROWSKI, P. GRYBOŚ, W. POWROŹNIK, T. STOBIECKI, K. ŚWIENTEK, P. WIĄCEK, J. SŁOWIK
    ŹródłoEPDIC 8 : 8th [ieghth] European Powder Diffraction Conference : Uppsala, Sweden 23–26 May 2002 : collected abstracts / Uppsala Iniversitet. — [Sweden : UU], [2002]. — S. 97
2
3
  • [referat w czasopiśmie, 2002]
  • TytułPrototype silicon position-sensitive detector working with Bragg-Brentano powder diffractometer
    AutorzyA. ZIĘBA, W. DĄBROWSKI, P. GRYBOŚ, W. POWROŹNIK, T. STOBIECKI, K. Świentek, J. SŁOWIK, P. Wiącek
    ŹródłoActa Physica Polonica. A. — 2002 vol. 101 no. 5, s. 629–634. — tekst: http://przyrbwn.icm.edu.pl/APP/PDF/101/A101Z508.pdf
4
5
  • [referat, 2002]
  • TytułSilicon strip detector applied to X-ray diffraction of thin films and superlattices
    AutorzyT. STOBIECKI, W. DĄBROWSKI, P. GRYBOŚ, J. Kanak, E. KUSIOR, W. POWROŹNIK, J. SŁOWIK, K. ŚWIENTEK, P. WIĄCEK, A. ZIĘBA
    ŹródłoX-top 2002 : 6textsuperscript{th} biennial conference on High resolution X-Ray diffraction and imaging : dedicated to the memory of Professor Norio Kato (1923–2002) : Grenoble and Aussois, 10–14 September 2002 : programme abstracts ; list of participants / ESRF European Synchrotron Radiation Facility Grenoble, France ; LMC Laboratoire de Minéralogie Cristallographie de Paris, France. — [France : s. n], 2002. — P126 s. 206
6