Wykaz publikacji wybranego autora

Edward Kusior, dr

adiunkt

* Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki
WEAIiE-ke, * Katedra Elektroniki


Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: brak

OPI Nauka Polska




1
  • [referat, 2000]
  • TytułMicrostructure of $TiO_{2-x}$ thin films reactively sputtered by DC magnetron
    AutorzyK. ZAKRZEWSKA, A. BRUDNIK, E. KUSIOR, M. RADECKA, A. Kowal
    ŹródłoSurface Engineering: in materials science I : proceedings of a symposium by the TMS Surface Modification & Coatings Technology Committee (SMC) and the Materials Processing and Manufacturing Division (MPMD), held during the 2000 TMS Annual Meeting : Nashville, Tennessee March 12–16, 2000 / ed. Sudipta Seal [et al.]. — Warrendale : The Minerals, Metals & Materials Society, 2000. — S. 163–172
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • [referat w czasopiśmie, 2000]
  • TytułOpracowanie i wdrożenie nowej nieniszczącej metody pomiaru naprężeń własnych opartej na geometrii dyfrakcji promieniowania X przy stałym kącie padania
    AutorzyStanisław J. SKRZYPEK, Andrzej BACZMAŃSKI, Edward KUSIOR
    ŹródłoProblemy Eksploatacji. — 2000 nr 2, s. 313–333
  • słowa kluczowe: dyfrakcyjne metody pomiaru makro-naprężeń własnych, nieniszcząca metoda pomiaru, dyfrakcja w geometrii stałego kąta padania, warstwy TiN

    keywords: macro-residual stresses, TiN layers

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • [referat w czasopiśmie, 2000]
  • TytułPomiary makronaprężeń własnych (NW) przy użyciu dyfrakcji promieni X przy stałym kącie padania – metoda g-$sin^{2}psi$
    AutorzyStanisław J. SKRZYPEK, Andrzej BACZMAŃSKI, Edward KUSIOR
    ŹródłoZeszyty Naukowe / Politechnika Świętokrzyska. Mechanika. — 2000 [z.] 72, s. 463–470
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • [referat, 2000]
  • TytułResidual macrostresses of metal plates after laser forming
    AutorzyS. J. SKRZYPEK, Z. Wesołowski, A. BACZMAŃSKI, E. KUSIOR
    ŹródłoXVIII conference on Applied crystallography : 4–7 September 2000 Katowice–Wisła, Poland and Rietveld method workshop : 7–9 September 2000 / University of Silesia ; Committee of Crystallography and Committee of Material Science of Polish Academy od Sciences. — [Katowice : UŚ], [2000]. — S. 34
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: