Wykaz publikacji wybranego autora

Wojciech Kucewicz, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki

  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (25%)

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (25%)

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-2073-711X orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 11039128200

PBN: 5e70922c878c28a047391176

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
2
  • [referat, 2005]
  • TytułData acquisition system for silicon ultra fast cameras for electron and gamma sources in medical applications
    AutorzyM. JASTRZĄB, W. KUCEWICZ, H. NIEMIEC, M. SAPOR [et al.]
    ŹródłoMIXDES 2005 : MIXed DESign of integrated circuits and systems : proceedings of the 12textsuperscript{th} international conference : Kraków, Poland 22–25 June 2004, Vol. 1 of 2 / ed. Andrzej Napieralski. — [Łodź : Technical University. Department of Microelectronics and Computer Science], 2005. — S. 601–604
3
  • [referat, 2005]
  • TytułDesign, fabrication and characterization of SOI pixel detectors of ionizing radiation
    AutorzyD. Tomaszewski [et al.], M. KOZIEŁ, W. KUCEWICZ, [et al.], S. KUTA, [et al.], H. NIEMIEC, M. SAPOR, M. SZELEŹNIAK
    ŹródłoScience and technology of semiconductor on Insulator structures devices operating in a harsh environment [Dokument elektroniczny] : proceedings of the NATO Advanced Research Workshop : Kiev, Ukraine, 26–30 April 2004 / eds. Flandre Denis [et al.]. — Netherlands : Kluwer Academic Publishers, 2005. — S. 291–296
4
5
6
7
  • [referat, 2005]
  • TytułStatus of the SOI detector R&D
    AutorzyA. Bulgheroni, M. Caccia, C. Cappellini, M. JASTRZĄB, M. KOZIEŁ, W. KUCEWICZ, H. NIEMIEC, M. SAPOR, P. Grabiec, K. Kucharski, J. Marczewski, D. Tomaszewski
    ŹródłoLCWS 05 : 2005 Ineternational Linear Collider Workshop : Stanford, California, USA, 18–22 March 2005. — [Stanford : s. n.], [2005]. — S. [1–3] 0812
8
  • [referat, 2005]
  • TytułSystem for noise parameterization of MOS devices
    AutorzyM. KOZIEŁ, T. Klatka, W. KUCEWICZ, H. NIEMIEC
    ŹródłoMIXDES 2005 : MIXed DESign of integrated circuits and systems : proceedings of the 12textsuperscript{th} international conference : Kraków, Poland 22–25 June 2004, Vol. 1 of 2 / ed. Andrzej Napieralski. — [Łodź : Technical University. Department of Microelectronics and Computer Science], 2005. — S. 365–370
9
  • [artykuł w czasopiśmie, 2005]
  • TytułTSSOI as an efficient tool for diagnostics of SOI technology in Institute of Electron Technology
    AutorzyMateusz Barański, [et al.], Wojciech KUCEWICZ, [et al.], Halina NIEMIEC, Maria SAPOR, [et al.]
    ŹródłoJournal of Telecommunications and Information Technology. — 2005 no. 1, s. 85–93. — tekst: https://www.itl.waw.pl/czasopisma/JTIT/2005/1/85.pdf