Wykaz publikacji wybranego autora

Wojciech Kucewicz, prof. dr hab. inż.

profesor zwyczajny

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, Instytut Elektroniki

  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (25%)

  • 2018

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika

    [dyscyplina 2] dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych / nauki fizyczne (25%)

[poprzednia klasyfikacja] obszar nauk technicznych / dziedzina nauk technicznych / elektronika

Identyfikatory Autora Informacje o Autorze w systemach zewnętrznych

ORCID: 0000-0002-2073-711X orcid iD

ResearcherID: brak

Scopus: 11039128200

PBN: 5e70922c878c28a047391176

OPI Nauka Polska

System Informacyjny AGH (SkOs)

1
2
3
  • [referat, 2004]
  • TytułA novel beta particle silicon dosimeter
    AutorzyC. Cappellini [et al.], W. KUCEWICZ,[et al.]
    ŹródłoESTRO : European Society for Therapeutic Radiology and Oncology : joint brachytherapy meeting GEC/ESTRO – ABS – GLAC : Barcelona, Spain, 13–15 May, 2004 / ESTRO. — [Spain : ESTRO], [2004]. — S. [1]
4
  • [książka, 2001]
  • TytułA pixel vertex tracker for the TESLA detector [Dokument elektroniczny]
    AutorzyM. Battaglia [et al.], W. KUCEWICZ [et al.]
    Details[S. l. : CERN], 2001. — 20 s. LC-DET-2001-042
5
  • [referat, 2002]
  • TytułAnalog signal processing in readout electronics for silicon detectors
    AutorzyH. MAŃKA, W. KUCEWICZ
    ŹródłoMIXDES 2002 : Mixed Design of integrated circuits and systems : proceedings of the 9textsuperscript{th} [ninth] international conference : Wrocław, Poland 20–22 June 2002 / ed. Andrzej Napieralski. — [Poland : s. n.], [2002]. — S. 593–598
6
  • [fragment książki, 2023]
  • TytułBadanie wieku Całunu
    AutorzyWojciech KUCEWICZ, Jakub S. Prauzner-Bechcicki
    ŹródłoLeksykon syndonologiczny : polska perspektywa i wkład / red. nauk. Tomasz Graff, Krzysztof Pilarczyk, Zbigniew Treppa. — Kraków : Wydawnictwo Księgarnia Akademicka, [2023]. — S. 150–154
7
  • [fragment książki, 2023]
  • TytułCałun Turyński - opis fizyczny
    AutorzyWojciech KUCEWICZ, Jakub S. Prauzner-Bechcicki
    ŹródłoLeksykon syndonologiczny : polska perspektywa i wkład / red. nauk. Tomasz Graff, Krzysztof Pilarczyk, Zbigniew Treppa. — Kraków : Wydawnictwo Księgarnia Akademicka, [2023]. — S. 127–133
8
  • [referat, 2002]
  • TytułCałun Turyński w świetle badań naukowych
    AutorzyWojciech KUCEWICZ
    ŹródłoWspółczesne kierunki rozwoju elektrotechniki, automatyki, informatyki, elektroniki i telekomunikacji : materiały międzynarodowej konferencji zorganizowanej z okazji Jubileuszu 50-lecia Wydziału EAIiE : Kraków, 7–8 czerwca 2002 / kom. red. Tomasz Zieliński, Dariusz Borkowski ; AGH WEAIiE. — [Kraków : WEAIiE], 2002. — S. 27–30
9
  • [referat w czasopiśmie, 1999]
  • TytułCapacitively coupled Active Pixel Sensors with analog readout for future $e^{+}e^{-}$ colliders
    AutorzyWojciech KUCEWICZ, Grzegorz DEPTUCH [et al.]
    ŹródłoActa Physica Polonica. B. — 1999 vol. 30 no. 6, s. 2075–2083. — tekst: https://www.actaphys.uj.edu.pl/fulltext?series=Reg&vol=30&page=2075
10
  • [referat, 2001]
  • TytułCharacterisation of hybrid pixel detectors with capacitive charge division
    AutorzyM. Caccia, S. Borghi, R. Campagnolo, M. Battaglia, W. KUCEWICZ, H. Palka, A. Zalewska, K. Domanski, J. Marczewski, D. Tomaszewski
    ŹródłoProceedings from 5th International Linear Collider Workshop : Batavia IL, USA, 24–28 October 2000 / eds. Adam Para, H. E. Fisk. — Batavia : [s. n.], 2001. — S. 773–777
11
  • [referat, 2013]
  • TytułCharacterization of transistors fabricated in evolving lapis semiconductor silicon-on-insulator 0.2 $mu$m technology
    AutorzySebastian GŁĄB, Mateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Wojciech KUCEWICZ, Maria SAPOR, Łukasz Mik
    ŹródłoMIXDES 2013 : mixed design of integrated circuits and systems : Gdynia, June 20–22, 2013 : book of abstracts of the 20textsuperscript{th} international conference / ed. Andrzej Napieralski. — [Łódź : Łódź University of Technology. Department of Microelectronics and Computer Science], cop. 2013. — S. 95
12
13
14
  • [referat, 2004]
  • TytułCMOS SOI technology characterization and verification of device models for analogue design : abstract
    AutorzyMirosław Grodner, [et al.], Wojciech KUCEWICZ, Krzysztof Kucharski, Jacek Marczewski, Halina NIEMIEC, Maria SAPOR, Michał SZELŹNIAK, Daniel Tomaszewski
    ŹródłoELTE 2004 : VIII Electron Technology Conference : Stare Jabłonki 19–22. 04. 2004 : book of extended abstracts / eds. Agnieszka Mossakowska-Wyszyńska, Andrzej Pfitzner, Piotr Szwemin ; Warsaw University of Technoloy. Institute of Microelectronics and Optoelectronics. — Łódź : CMYK Studio Poligrafii i Reklamy, [2004]. — S. 259–260
15
  • [referat, 2012]
  • TytułCompensation of the temperature fluctuations in the silicon photomultiplier measurement system
    AutorzyMateusz BASZCZYK, Piotr DOROSZ, Sebastian GŁĄB, Wojciech KUCEWICZ, Łukasz MIK, Maria SAPOR
    ŹródłoMIXDES 2012 [Dokument elektroniczny] : mixed design of integrated circuits and systems : proceedings of the 19textsuperscript{th} international conference : Warsaw, Poland 24–26 May, 2012 / ed. Andrzej Napieralski. — Łódź : Technical University of Łódź, 2012. — S. 300–303
16
  • [referat, 2016]
  • TytułCracow SOI pixel detector characterization
    AutorzyDASGUPTA Roma, BUGIEL Szymon, IDZIK Marek, Kapusta Piotr, KUCEWICZ Wojciech, Nurnberg Andreas
    ŹródłoCLIC detector and physics collaborating meeting [Dokument elektroniczny] : 30–31 August 2016, CERN, [Zurich, Switzerland]. — [Geneva : s. n.], [2016]. — Slajdy 1–15
17
18
  • [referat, 2004]
  • TytułC-V, I-V and C-T measurement and data analysis system in the labview environment
    AutorzyM. SZELEŹNIAK, G. DEPTUCH, W. Dulinski, W. Jung, W. KUCEWICZ
    ŹródłoMIXDES 2004 : MIXed DESign of integrated circuits and systems : proceedings of the 11textsuperscript{th} international conference : Szczecin, Poland 24–26 June 2004 / ed. Andrzej Napieralski. — [Łodź : Technical University. Department of Microelectronics and Computer Science], 2004. — S. 468–475
19
  • [referat, 2005]
  • TytułData acquisition system for silicon ultra fast cameras for electron and gamma sources in medical applications
    AutorzyM. JASTRZĄB, W. KUCEWICZ, H. NIEMIEC, M. SAPOR [et al.]
    ŹródłoMIXDES 2005 : MIXed DESign of integrated circuits and systems : proceedings of the 12textsuperscript{th} international conference : Kraków, Poland 22–25 June 2004, Vol. 1 of 2 / ed. Andrzej Napieralski. — [Łodź : Technical University. Department of Microelectronics and Computer Science], 2005. — S. 601–604
20
  • [referat, 2005]
  • TytułDesign, fabrication and characterization of SOI pixel detectors of ionizing radiation
    AutorzyD. Tomaszewski [et al.], M. KOZIEŁ, W. KUCEWICZ, [et al.], S. KUTA, [et al.], H. NIEMIEC, M. SAPOR, M. SZELEŹNIAK
    ŹródłoScience and technology of semiconductor on Insulator structures devices operating in a harsh environment [Dokument elektroniczny] : proceedings of the NATO Advanced Research Workshop : Kiev, Ukraine, 26–30 April 2004 / eds. Flandre Denis [et al.]. — Netherlands : Kluwer Academic Publishers, 2005. — S. 291–296
21
22
23
24
  • [referat, 2008]
  • TytułDevelopment of monolithic active pixel sensor in SOI technology fabricated on the wafer with thick device layer
    AutorzyW. KUCEWICZ, B. M. Armstrong, H. S. Gamble, P. Grabiec, K. Kucharski, J. Marczewski, W. MAZIARZ, H. NIEMIEC, F. H. Ruddell, M. SAPOR, D. Tomaszewski
    Źródło2008 IEEE NSS/MIC/RTSD conference record [Dokument elektroniczny] : Nuclear Science Symposium (NSS) ; Medical Imaging Conference (MIC) ; 16th international workshop on Room-Temperature Semiconductor X- and Gamma-Ray Detectors (RTSD) : 19–25 October 2008 Dresden, Germany / guest ed. Paul Sellin ; Nuclear & Plasma Sciences Society, Institute of Electrical and Electronics Engineers. — [New York] : IEEE, 2008. — S. 1123–1125
25
  • [referat, 2003]
  • TytułDevelopment of readout circuit for monolithic active pixel sensors in SOI technology
    AutorzyTomasz Klatka, Michał KOZIEŁ, Wojciech KUCEWICZ, Halina NIEMIEC, Maria SAPOR
    ŹródłoProceedings of the 16th European Conference on Circuits Theory and Design, ECCTD'03 : September 1st–4th, 2003 Cracow, Poland, Vol. 2 / eds. Z. Galias [et al.]. — Cracow : AGH University of Science and Technology. Faculty of Electrical Engineering, Automatics, Computer Science and Electronics, 2003. — S. II-9–II-12