specjalista
Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji WIEiT-ke, *Katedra Elektroniki
ORCID: brak
ResearcherID: brak
Scopus: 56632653000
Graded ${SiO_{x}N_{y}}$ layers as antireflection coatings for solar cells application / M. Lipiński, S. KLUSKA, H. CZTERNASTEK, P. Zięba // Materials Science (Poland) / Wrocław University of Technology. Centre of Advanced Materials and Nanotechnology ; ISSN 0137-1339. — 2006 vol. 24 no. 4, s. 1009–1016. — Bibliogr. s. 1015–1016. — Intermolecular and magnetic interactions in matter : Nałęczów 8–10 September 2005 : conference / guest eds. Jan M. Olchowik, Wojciech Sadowski, Nikos Guskos ; Wrocław University of Technology. Centre of Advanced Materials and Nanotechnology. — [Wrocław] : Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2006
brak zdefiniowanych słów kluczowych
Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Stanisława Kluska
cyfrowy identyfikator dokumentu:
Investigation of white standards by means of bidirectional reflection distribution function and integrating sphere methods / Janusz Jaglarz, Ryszard Duraj, Przemysław Szopa, Jan Cisowski, Halina CZTERNASTEK // Optica Applicata ; ISSN 0078-5466. — 2006 vol. 36 no. 1, s. 97–103. — Bibliogr. s. 103. — tekst: https://goo.gl/qXXhVW
keywords: color measurements, white standards, optical scattering