Wykaz publikacji wybranego autora

Halina Czternastek, mgr inż.

specjalista

Wydział Informatyki, Elektroniki i Telekomunikacji
WIEiT-ke, *Katedra Elektroniki


Identyfikatory Autora

ORCID: brak

ResearcherID: brak

Scopus: 56632653000




1
  • Application of silicon nitride for silicon solar cells / Marek Lipiński, Paweł Zięba, Piotr Panek, Stanisława JONAS, Stanisława KLUSKA, Halina CZTERNASTEK, Adam Szyszka, Bogdan Paszkiewicz // W: IMAPS Poland : XXIX international conference of International Microelectronics and Packaging Society Poland Chapter : Koszalin – Darłówko 18–21 September 2005 : proceedings / eds. Piotr Majchrzak [et al.] ; International Microelectronics and Packaging Society. Poland Chapter. — [Poland] : IMAPS. Poland Chapter, 2005. — S. 203–206. — Bibliogr. s. 206, Abstr.. — Toż na dołączonym CD-ROM-ie

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

2
  • Effect of deposition geometry on structural, electrical and optical properties of $ZnO:Al$ films by magnetron sputtering / H. CZTERNASTEK // W: KKTP 2005 : VII Krajowa Konferencja Techniki Próżni : 18–21 września 2005 Cedzyna k/Kielc : program i streszczenia prac / Polskie Towarzystwo Próżniowe, Przemysłowy Instytut Elektroniki, Politechnika Warszawska IMiO. — [Polska. : s. n.], [2005]. — S. [1], P-3

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

3
  • Krzemowe polikrystaliczne ogniwa słoneczne z warstwą antyrefleksyjną z azotku krzemuMulticrystalline silicon solar cells with silicon nitride antireflection coating / Marek Lipiński, Paweł Zięba, Piotr Panek, Stanisława JONAS, Stanisława KLUSKA, Mariusz SOKOŁOWSKI, Halina CZTERNASTEK // W: ELTE 2004 : VIII konferencja naukowa „Technologia elektronowa” : Stare Jabłonki, 19–22. 04. 2004 : materiały konferencyjne / red. nauk. Agnieszka Mossakowska-Wyszyńska. — Aleksandrów Łódzki : CMYK Studio Poligrafii i Reklamy, 2005. — S. 559–562. — Bibloigr. s. 562

  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

4
  • Optical and microstructural properties of graded porous silicon layerOptyczne i mikrostrukturalne własności gradientowej warstwy z porowatego krzemu / M. Lipiński, H. CZTERNASTEK, M. SOKOŁOWSKI, P. Panek // Archives of Metallurgy and Materials / Polish Academy of Sciences. Committee of Metallurgy. Institute of Metallurgy and Materials Science ; ISSN 1733-3490. — 2005 vol. 50 iss. 2 spec. iss., s. 387–393. — Bibliogr. s. 393. — SOTAMA-FGM : Symposium on Texture and Microstructure Analysis of Functionally Graded Materials : October 3–7, 2004, Kraków, Poland. — tekst: http://www.imim.pl/files/archiwum/Vol2_2005/nr_2_2005%2012.pdf

  • słowa kluczowe: porowaty krzem, warstwa przeciwodblaskowa

    keywords: porous silicon, antireflection coating, graded layer

    cyfrowy identyfikator dokumentu: