Adsorpcja białek i ich konformacja na cienkich warstwach politiofenów: charakteryzacja spektro- i mikroskopowa — [Effects of polythiophene surface structure on adsorption and conformation of proteins : a multi-technique study] / K. Awsiuk, A. Budkowski, M. M. MARZEC, P. Petrou, J. Rysz, A. BERNASIK // W: KM 2014 : Kryształy Molekularne 2014 : materiały XIX ogólnopolskiej konferencji : Sromowce Niżne, 8–12 września 2014 r. / red. Piotr Zieliński, Andrzej Budziak ; Instytut Fizyki Jądrowej im. Henryka Niewodniczańskiego Polskiej Akademii Nauk. — Tarnów : Tomasz Mariusz Majka, cop. 2014. — ISBN: 978-83-937270-1-8. — S. 41. — Bibliogr. s. 41

Application of $Ar-GCIB$ depth profiling with XPS of selected cell lines / M. WYTRWAŁ, M. Woszczek, M. M. MARZEC, S. Prauzner-Bechcicki, M. Lekka, Andrzej BERNASIK // W: SIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 103–104. — Bibliogr. s. 104

Application of conjugated polymer-platinum group metal composites as heterogeneous catalysts / Magdalena HASIK, Wincenty Turek, Anna NYCZYK, Edyta STOCHMAL, Andrzej BERNASIK, Agnieszka Sniechota, Agnieszka Sołtysek // Catalysis Letters ; ISSN 1011-372X. — 2009 vol. 127 iss. 3–4, s. 304–311. — Bibliogr. s. 310–311, Abstr.. — tekst: https://www.infona.pl/resource/bwmeta1.element.springer-ad70fce5-f19e-3a4d-a2f9-7b67eac55424#

Argon cluster ion beam depth profiling of organic materials by X-ray photoelectron spectroscopy / Andrzej BERNASIK, Mateusz M. MARZEC, Wojciech ŁUŻNY, Jakub Rysz, Andrzej Budkowski // W: WOREN 2013 : 3\textsuperscript{rd} Polish-French workshop on Organic electronics and nanophotonics : Muszyna–Złockie, 17–21 February 2013 : book of abstracts / ed.-in-chief Jacek Nizioł, eds. Ewa Gondek, Monika Pokladko-Kowar. — Kraków : Faculty of Physics and Applied Computer Science. AGH University of Science and Technology, 2013. — ISBN: 978-83-925779-4-2. — S. 9. — Bibliogr. s. 9

Argon cluster ion beam depth profiling of polymers by X-ray photoelectron spectroscopy / A. BERNASIK, M. M. MARZEC, J. HABERKO, W. ŁUŻNY, J. Rysz, A. Budkowski // W: XIPS 2013 : IX international conference on X-ray investigations of polymer structure : Zakopane, Poland, 3–6 December 2013 : book of abstracts / ed. by Monika Basiura-Cembala ; University of Bielsko-Biała, Catholic University of Leuven, Committee on Material Science of the Polish Academy of Sciences. — Bielsko-Biała : Wydawnictwo Naukowe ATH, [2013]. — ISBN: 978-83-63713-59-1. — S. 38. — Bibliogr. s. 38

Argon gas cluster ion beam in XPS analysis of poly(3-alkylthiophene)s / A. BERNASIK, M. M. MARZEC, J. Rysz, W. ŁUŻNY, A. Budkowski // W: ECASIA'13 : 15th European conference on Applications of surface and interface analysis : 13\textsuperscript{th} – 18\textsuperscript{th} October 2013 Cagliari, Sardinia (Italy) / ed. A. Rossi, B. Elsener ; Dipartimento di Scienze Chimiche e Geologiche Università di Cagliari, Sardinia, Italy. — [Cagliari : s. n.], [2013]. — ISBN: 978-88-907670-0-5. — S. 80

Between single ion magnets and macromolecules: polymer/transition metal-based semi-solid solution / Anna M. Majcher, Paweł Dąbczyński, Mateusz M. MARZEC, Magdalena Ceglarska, Jakub Rysz, Andrzej BERNASIK, Shin-ichi Ohkoshi, Olaf Stefańczyk // W: FUNMAT2017 : 3\textsuperscript{rd} international conference on Functional Molecular Materials : 8\textsuperscript{th}–10\textsuperscript{th} November 2017 : book of abstracts / ed. Tomasz Korzeniak. — [Kraków : s. n.], [2017]. — S. 53. — Bibliogr. s. 53

Bovine serum albumin adsorption to thin film surfaces of poly(3-alkylthiopene)s : AFM, XPS and ToF-SIMS studies / K. Awsiuk, A. Budkowski, M. M. MARZEC, P. Petrou, J. Rysz, A. BERNASIK // W: 4th international colloids conference [Dokument elektroniczny] : surface design & engineering : 15–18 June 2014, Madrid, Span. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Spain : s. n.], [2014]. — S. [1–2]. — Wymagania systemowe: Adobe Reader. — Tryb dostępu: http://www.colloidsconference.com/conference-register.html [2014-09-23]. — Tekst dostępny po zalogowaniu

Buried polymer/metal interfaces examined with Kelvin Probe Force Microscopy / M. M. MARZEC, K. Awsiuk, A. BERNASIK, J. Rysz, J. HABERKO, W. ŁUŻNY, A. Budkowski // Thin Solid Films ; ISSN 0040-6090. — 2013 vol. 531, s. 271–276. — Bibliogr. s. 276, Abstr.. — tekst: http://ac.els-cdn.com/S0040609013001776/1-s2.0-S0040609013001776-main.pdf?_tid=93723c98-19e0-11e3-9c86-00000aab0f6b&acdnat=1378793988_2ee66cce3197c49d639207abb6cf38de

Carbon nanomaterials coatings –- properties and influence on nerve cells response / Aneta FRĄCZEK-SZCZYPTA, Danuta Jantas, Filip CIEPIELA, Justyna Grzonka, Andrzej BERNASIK, Mateusz MARZEC // Diamond and Related Materials ; ISSN 0925-9635. — 2018 vol. 84, s. 127–140. — Bibliogr. s. 139–140, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2018-03-19. — A. Bernasik – dod. afiliacja: ACMiN. — tekst: https://www-1sciencedirect-1com-1000027v00e09.wbg2.bg.agh.edu.pl/science/article/pii/S0925963517305678/pdfft?md5=afb3d3b3a1383c7cf2c762975a2934fa&pid=1-s2.0-S0925963517305678-main.pdf

Characterization of silicon biosensor surfaces with Time of Flight Secondary Ion Mass Spectroscopy / J. Rysz, K. Awsiuk, K. Fornal, P. Petrou, A. Budkowski, A. BERNASIK, S. Kakabakos, M. M. MARZEC, I. Raptis // W: SIMS-19 : the 19th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 29–October 4, 2013, ICC Jeju, Jeju, Korea : program and abstracts. — [Korea : s. n.], 2013. — Dodatkowo na okł.: Balances between dynamic SIMS and static SIMS, Academia and Industries, Fundamentals and Applications. — S. 147. — Bibliogr. s. 147

Charakterystyka złącza polimer-metal metodą kelvinowskiej mikroskopii sił — [Characterization of polymer-metal interface by Kelvin Probe Force Microscopy] / MARZEC M. M., BERNASIK A., Awsiuk K., Rysz J., Budkowski A., ŁUŻNY W. // W: Kryształy molekularne : materiały XVIII ogólnopolskiej konferencji : Gdańsk–Sobieszewo, 10–14 września 2012 / Politechnika Gdańska. Wydział Fizyki Technicznej i Matematyki Stosowanej. Katedra Fizyki Zjawisk Elektronowych. — [Gdańsk : PG], [2012]. — S. 32. — Marzec M. M., Bernasik A., Łużny W. – afiliacja: Akademia Górniczo-Hutnicza, Wydział Fizyki i Informatyki Stosowanej, Kraków

Chemical stability of polymers under $Ar-GCIB$ and X-ray irradiation / Andrzej BERNASIK, J. HABERKO, M. M. MARZEC, J. Rysz, W. ŁUŻNY, A. Budkowski // W: SIMS XX : 20th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 13–18, 2015, Seattle : technical program & abstracts. — [USA : s. n.], [2015]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 95. — Bibliogr. s. 95

Chemical stability of polymers under argon gas cluster ion beam and x-ray irradiation / Andrzej BERNASIK, Jakub HABERKO, Mateusz M. MARZEC, Jakub Rysz, Wojciech ŁUŻNY, Andrzej Budkowski // Journal of Vacuum Science & Technology. B, Microelectronics and Nanometer Structures ; ISSN 1071-1023. — 2016 vol. 34 iss. 3, s. 030604-1–030604-5. — Publikacja dostępna online od: 2016-03-16. — A. Bernasik – dod. afiliacja: ACMiN. — tekst: http://goo.gl/t00txz

Cohesion and adhesion effects in (templated) self-organization of conjugated polymer blend films used in plastic electronics / Andrzej Budkowski, Ellen Moons, Justyna Jaczewska, Andrzej BERNASIK, Jakub Rysz, Ioannis Raptis // W: II Krajowa konferencja nanotechnologii : Kraków, 25–28 czerwca 2008 : książka streszczeń. — [Kraków : Centrum Badań Układów Nanoskopowych i Zaawansowanych Materiałów, NANOSAM, Uniwersytetu Jagiellońskiego], [2008]. — S. [1]. — Bibliogr. s. [1]

Compositional mismatch between chemical patterns on a substrate and polymer blends yielding spin-cast films with subpattern periodicity / J. Raczkowska, A. BERNASIK, A. Budkowski, J. Rysz, B. Gao, M. Lieberman // Macromolecules / American Chemical Society ; ISSN 0024-9297. — 2007 vol. 40 iss. 6, s. 2120–2125. — Bibliogr. s. 2124–2125, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2007-02-27

Conductivity of thin polymer films containing polyaniline / J. HABERKO, J. Raczkowska, A. BERNASIK, J. Rysz, M. NOCUŃ, J. NIZIOŁ, W. ŁUŻNY, A. Budkowski // Molecular Crystals and Liquid Crystals ; ISSN 1542-1406. — 2008 vol. 485, s. 796–803

Contact pin-printing of albumin-fungicide conjugate for silicon nitride-based sensors biofunctionalization: multi-technique surface analysis for optimum immunoassay performance / Katarzyna Gajos, [et al.], Andrzej BERNASIK, [et al.] // Applied Surface Science ; ISSN 0169-4332. — Tytuł poprz.: Applications of Surface Science. — 2017 vol. 410, s. 79–86. — Bibliogr. s. 85–86, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2017-03-11. — A. Bernasik - dod. afiliacja: ACMIN AGH. — tekst: https://goo.gl/8PhETQ

Core-shell polymer microspheres – depth profiling using cluster ions and XPS : [abstract] / Jakub HABERKO, Mateusz M. MARZEC, Andrzej BERNASIK, Monika Gosecka, Joanna Raczkowska, Kamil Awsiuk, Jakub Rysz, Andrzej Budkowski, Teresa Basinska // W: SIMS XXI [Dokument elektroniczny] : 21th international conference on Secondary Ion Mass Spectrometry : Kraków, Poland, September 10–15, 2017. — Wersja do Windows. — Dane tekstowe. — [Kraków : s. n.], [2017]. — S. [1] ID RM-Thu2-2-4. — Tryb dostępu: http://sims.confer.uj.edu.pl/boa_oral.php?id=257 [2017-09-28]. — Bibliogr. s. [1]. — A. Bernasik - dod. afiliacja: ACMiN AGH

Covalent bonding and physical adsorption of immunoglobulin on silicon nitride modified with organo-silanes: comparison using AFM, angle-resolved XPS and multivariate TOF-SIMS analysis / K. Awsiuk, A. Budkowski, P. Petrou, A. BERNASIK, S. Kakabakos, J. Rysz, I. Raptis // W: ISSIS 2012 : 3\textsuperscript{rd} International Symposium on Surface Imaging/Spectroscopy at the solid/liquid interface : May 27\textsuperscript{th}–June 1\textsuperscript{st}, 2012, Kraków, Poland : book of abstracts / ed. G. Mordarski ; PAN, Warsaw University. Department of Chemistry, Foundation ”Pro–Kataliza”. — Kraków : Polish Academy of Sciences. Jerzy Haber Institute of Catalysis and Surface Chemistry, 2012. — ISBN: 978-83-60514-17-7. — S. 80–81. — Bibliogr. s. 81

Cross-linked poly(vinylsiloxanes) as matrices for metallic palladium : [abstract] / M. WÓJCIK-BANIA, J. Olejarka, M. HASIK, A. BERNASIK, A. Krowiak, J. Strzezik // W: Frontiers in polymer science [Dokument elektroniczny] : in association with the Journal Polymer : third international symposium : 21–23 May 2013, Sitges, Spain. — Dane tekstowe. — [Spain : s. n.], [2013]. — S. 59. — Tryb dostępu: https://elsevier.conference-services.net/secureProgramme.asp?conferenceID=3255&uID=619030 [2013-05-29]. — Tekst dostępny po zalogowaniu w części: Poster Abstracts 501 to 566

Dendrites and pillars in spin cast blends of polyaniline or its oligomeric analogue / J. HABERKO, A. BERNASIK, W. ŁUŻNY, J. Raczkowska, J. Rysz, A. Budkowki // Synthetic Metals ; ISSN 0379-6779. — 2010 vol. 160 iss. 23–24, s. 2459–2466. — Bibliogr. s. 2466, Abstr.

Dendritic structures in thin films of polymeric composites / J. HABERKO, A. BERNASIK, J. Raczkowska, J. Rysz, W. ŁUŻNY, A. Budkowski // W: XIPS 2007 : VII international conference on X-ray Investigations of Polymer Structure : 5–7 December 2007, Kraków, Poland : programme and abstracts. — [Bielsko-Biała : Akademia Techniczno-Humanistyczna], [2007]. — S. 43, L24

Depth profiling and scanning near-field optical microscopy studies of phase separation in thin polymer films for solar cell applications / J. Rysz, A. Budkowski, J. Raczkowska, J. Jaczewska, A. BERNASIK, W. ŁUŻNY, E. Moons // W: II Krajowa konferencja nanotechnologii : Kraków, 25–28 czerwca 2008 : książka streszczeń. — [Kraków : Centrum Badań Układów Nanoskopowych i Zaawansowanych Materiałów, NANOSAM, Uniwersytetu Jagiellońskiego], [2008]. — S. [1]. — Bibliogr. s. [1]

Depth profiling of multilayers for spintronics and plastic electronics / Jakub Rysz, Andrzej BERNASIK, Mateusz MARZEC, Andrzej Budkowski, Jerzy WRONA, Jarosław KANAK, Tomasz STOBIECKI // W: SIMS Europe 2012 : 8\textsuperscript{th} European workshop on Secondary Ion Mass Spectrometry : September 9–11, 2012, Münster, Germany : final program and book of abstracts / Westfälische Wilhelms-Universität Münster. — [Münster : s. n.], [2012]. — Opis częśc. wg okł.. — S. 34. — Bibliogr. s. 34