Wykaz publikacji wybranego autora

Rafał Mularczyk, mgr inż.

asystent

Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej
WEAIiIB-kair, Katedra Automatyki i Robotyki


  • 2023

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne


  • 2020

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / automatyka, elektronika i elektrotechnika


Identyfikatory Autora

ORCID: 0000-0002-8485-0664 orcid iD

ResearcherID: DIJ-7364-2022

Scopus: 57226286619

PBN: 5ebed9a0752340254fc41512





Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 6, z ogólnej liczby 6 publikacji Autora


1
2
  • [referat, 2023]
  • TytułApplication of statistical methods to support automation of pricing in business
    AutorzyKatarzyna GROBLER-DĘBSKA, Edyta KUCHARSKA, Rafał MULARCZYK, Mieczysław Jagodziński
    ŹródłoAdvanced, contemporary control : proceedings of the XXI Polish Control Conference, Gliwice, Poland, 2023, Vol. 2 / eds. Marek Pawelczyk, [et al.]. — Cham : Springer Nature Switzerland, cop. 2023. — S. 37–46
  • brak zdefiniowanych słów kluczowych

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1007/978-3-031-35173-0_4

3
  • [referat, 2022]
  • TytułIntegration of data analytics in operation of enterprise resource planning systems
    AutorzyRafał MULARCZYK, Edyta KUCHARSKA, Katarzyna GROBLER-DĘBSKA, Jerzy BARANOWSKI
    ŹródłoMMAR 2022 : 26textsuperscript{th} international conference on Methods and Models in Automation and Robotics : 22–25 August 2022, Międzyzdroje, Poland : abstracts. — Szczecin : ZAPOL Sobczyk, [2022]. — S. 20
  • keywords: ERP, modules, data analysis, IFS applications, power BI

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/MMAR55195.2022.9874332

4
5
  • [referat, 2021]
  • TytułTransient anomaly detection using Gaussian Process depth Analysis
    AutorzyJerzy BARANOWSKI, Adrian DUDEK, Rafał MULARCZYK
    ŹródłoMMAR 2021 [Dokument elektroniczny] : 2021 25textsuperscript{th} international conference on Methods and Models in Automation & Robotics : August 23–26, 2021, Międzyzdroje, Poland. — [Piscataway] : IEEE, cop. 2021. — S. 221–226
  • keywords: fault detection, data depth, transient state, Gaussian Process

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1109/MMAR49549.2021.9528470

6