Wykaz publikacji wybranego autora

Łukasz Rychłowski, mgr inż.

doktorant

Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii
ACMiN, Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii

  • 2022

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

  • 2019

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora

ORCID: 0000-0001-9589-7786 orcid iD

ResearcherID: DRK-0070-2022

Scopus: 57216955375

Statystyka obejmuje publikacje afiliowane AGH od 2008 roku włącznie

typ publikacji
rocznikl. publ.książkifragm.referatyartykułypatentymapyred. czas.inne
ogółem10——28————
20236——15————
20213——12————
20201———1————
język publikacji
rocznikrazempolskojęzyczneanglojęzycznepozostałe języki
ogółem10—10—
20236—6—
20213—3—
20201—1—
kraj wydania
rocznikrazempubl. krajowepubl. zagraniczne
ogółem1019
2023615
20213—3
20201—1
Lista Filadelfijska
rocznikrazempubl. z LFpubl. pozostałe
ogółem1073
2023651
2021321
20201—1
punktacja MNiSW
rocznikrazempubl. z pkt. MNiSWpubl. pozostałe
ogółem1073
2023642
2021321
202011—
publikacje recenzowane
rocznikrazempubl. recenzowanepubl. nierecenzowane
ogółem1073
2023642
2021321
202011—
1

  • Crystallographic analysis of the lattice metric (CALM) from single electron backscatter diffraction or transmission Kikuchi diffraction patterns / Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Łukasz RYCHŁOWSKI, Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN // Journal of Applied Crystallography ; ISSN 0021-8898. — 2021 vol. 54 pt. 3, s. 1012-1022. — Bibliogr. s. 1022. — Publikacja dostępna online od: 2021-05-28. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow, United Kingdom. — tekst: https://journals.iucr.org/j/issues/2021/03/00/nb5295/nb5295.pdf

    orcid iD

  • keywords: lattice parameters, electron backscatter diffraction, Kikuchi patterns, Radon transform

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski, Grzegorz Cios, Aimo Winkelmann

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1107/S1600576721004210

2
3
4
5
6

  • Studying high carbon steel martensite tetragonality using EBSD / Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Marta GAJEWSKA, Łukasz RYCHŁOWSKI, Piotr BAŁA // W: AMT'2023 : Advanced Materials and Technologies : June 18th – 21st 2023, Wisła, Poland : book of abstracts / eds. Adam Skowronek, Aleksandra Kozłowska. — Katowice - Gliwice : Archives of Foundry Engineering, cop. 2023. — ISBN: 978-83-63605-57-5. — S. 55

  • keywords: martensite, EBSD, steels

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski, Piotr Bała, Grzegorz Cios, Marta Gajewska, Aimo Winkelmann

    cyfrowy identyfikator dokumentu:

7

  • Transmission Kikuchi diffraction: the impact of the signal-to-noise ratio / Tomasz TOKARSKI, Gert Nolze, Aimo WINKELMANN, Łukasz RYCHŁOWSKI, Piotr BAŁA, Grzegorz CIOS // Ultramicroscopy ; ISSN 0304-3991. — 2021 vol. 230 art. no. 113372, s. 1–8. — Bibliogr. s. 7–8, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2021-08-14. — P. Bała – dod. afiliacja: Academic Centre for Materials and Nanotechnology, AGH University of Science and Technology. — tekst: https://tiny.pl/9twcx

    orcid iD

  • keywords: SEM, EBSD, transmission Kikuchi diffraction, sample holder

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski, Piotr Bała, Grzegorz Cios, Aimo Winkelmann

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.ultramic.2021.113372

8

  • Use of electron backscatter diffraction patterns to determine the crystal lattice. Pt. 1, Where is the Bragg angle? / Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Łukasz RYCHŁOWSKI // Journal of Applied Crystallography ; ISSN 0021-8898. — 2023 vol. 56 pt. 2, s. 349-360. — Bibliogr. s. 360, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2023-02-24. — tekst: https://journals.iucr.org/j/issues/2023/02/00/nb5337/nb5337.pdf

    orcid iD

  • keywords: lattice parameters, electron backscatter diffraction, Kikuchi patterns, Radon transform, Bragg angles, Kikuchi bands, first derivative, lattice parameter determination, Bravais lattice type

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1107/S1600576723000134

9

  • Use of electron backscatter diffraction patterns to determine the crystal lattice. Pt. 2, Offset corrections / Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Łukasz RYCHŁOWSKI // Journal of Applied Crystallography ; ISSN 0021-8898. — 2023 vol. 56 pt. 2, s. 361-366. — Bibliogr. s. 366, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2023-02-24. — tekst: https://journals.iucr.org/j/issues/2023/02/00/nb5343/nb5343.pdf

    orcid iD

  • keywords: lattice parameters, electron backscatter diffraction, Kikuchi patterns, lattice parameter determination, mean atomic number, automated Bragg angle determination, dynamical theory of electron diffraction, Funk transform

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1107/S1600576723000146

10

  • Use of electron backscatter diffraction patterns to determine the crystal lattice. Pt. 3, Pseudosymmetry / Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Łukasz RYCHŁOWSKI // Journal of Applied Crystallography ; ISSN 0021-8898. — 2023 vol. 56 pt. 2, s. 367-380. — Bibliogr. s. 379-380, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2023-02-24. — tekst: https://journals.iucr.org/j/issues/2023/02/00/nb5341/nb5341.pdf

    orcid iD

  • keywords: lattice parameters, ordered structures, electron backscatter diffraction, Funk transform, Bravais lattices, pseudosymmetry, lattice point density, lattice distortion, backscattered Kikuchi diffraction patterns, disordered structures

    Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1107/S1600576723000845