Wykaz publikacji wybranego autora

Łukasz Rychłowski, mgr inż.

Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii
ACMiN, Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii

2022
[dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa
2019
[dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa

Identyfikatory Autora
ORCID: 0000-0001-9589-7786 ResearcherID: DRK-0070-2022 Scopus: 57216955375

Identyfikatory Autora

ResearcherID: DRK-0070-2022


Zakres roczników od
Typ publikacji
Publikacje z LF
Publikacje z PM

Liczba pozycji spełniających powyższe kryteria selekcji: 10, z ogólnej liczby 10 publikacji Autora

sortowanie:

1

[artykuł w czasopiśmie, 2021]

Tytuł	Crystallographic analysis of the lattice metric (CALM) from single electron backscatter diffraction or transmission Kikuchi diffraction patterns
Autorzy	Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Łukasz RYCHŁOWSKI, Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN
Źródło	Journal of Applied Crystallography. — 2021 vol. 54 pt. 3, s. 1012-1022. — tekst: https://journals.iucr.org/j/issues/2021/03/00/nb5295/nb5295.pdf

keywords: lattice parameters, electron backscatter diffraction, Kikuchi patterns, Radon transform

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski, Grzegorz Cios, Aimo Winkelmann

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1107/S1600576721004210

2

[referat, 2021]

Tytuł	Data preparation in the digital material representation based 3D cellular automata model of static recrystallization
Autorzy	Ł. MADEJ, M. SITKO, M. MOJŻESZKO, Ł. RYCHŁOWSKI, D. ZYCH, K. PERZYŃSKI, G. CIOS
Źródło	ICTP 2021 [Dokument elektroniczny] : the 13th international conference on the Technology of plasticity : July 25-30, 2021 : virtual event : technical program : [abstracts]. — [USA : The Ohio State University], 2021. — S. 28

brak zdefiniowanych słów kluczowych

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Łukasz Madej, Konrad Perzyński, Mateusz Sitko, Grzegorz Cios, Mateusz Mojżeszko, Dawid Zych

cyfrowy identyfikator dokumentu:

3

[abstrakt w czasopiśmie, 2023]

Tytuł	Factors affecting martensite tetragonality during EBSD analysis
Autorzy	Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Marta GAJEWSKA, Łukasz RYCHŁOWSKI, Piotr BAŁA
Źródło	Microscopy and Microanalysis. — 2023 vol. 29 suppl. 1, s. 477. — tekst: https://academic.oup.com/mam/article-pdf/29/Supplement_1/477/50932310/ozad067.225.pdf

brak zdefiniowanych słów kluczowych

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski, Piotr Bała, Grzegorz Cios, Marta Gajewska, Aimo Winkelmann

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1093/micmic/ozad067.225

4

[artykuł w czasopiśmie, 2023]

Tytuł	Mapping of lattice distortion in martensitic steel — comparison of different evaluation methods of EBSD patterns
Autorzy	Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Łukasz RYCHŁOWSKI, Leonid Dan, Piotr BAŁA
Źródło	Ultramicroscopy. — 2023 vol. 253 art. no. 113824, s. 1–11. — tekst: https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0304399123001419/pdfft?md5=f28fb329e801363d8a4e08dc81e529b9&pid=1-s2.0-S0304399123001419-main.pdf

keywords: martensite, EBSD, steel, strain, tetragonality

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski, Piotr Bała, Grzegorz Cios, Aimo Winkelmann

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.ultramic.2023.113824

5

[referat w czasopiśmie, 2020]

Tytuł	Numerical procedure of three-dimensional reconstruction of ferrite-pearlite microstructure data from SEM/EBSD serial sectioning
Autorzy	Mateusz SITKO, Mateusz MOJŻESZKO, Łukasz RYCHŁOWSKI, Grzegorz CIOS, Piotr BAŁA, Krzysztof MUSZKA, Łukasz MADEJ
Źródło	Procedia Manufacturing [Dokument elektroniczny]. — Czasopismo elektroniczne. — 2020 vol. 47, s. 1217-1222. — tekst: https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2351978920312439/pdf?md5=683af92612cee0b1cfc6227c8cd249f4&pid=1-s2.0-S2351978920312439-main.pdf

keywords: digital material representation, 3D reconstruction, serial sectioning

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Krzysztof Muszka, Łukasz Madej, Piotr Bała, Mateusz Sitko, Grzegorz Cios, Mateusz Mojżeszko

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.promfg.2020.04.183

6

[referat, 2023]

Tytuł	Studying high carbon steel martensite tetragonality using EBSD
Autorzy	Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN, Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Marta GAJEWSKA, Łukasz RYCHŁOWSKI, Piotr BAŁA
Źródło	AMT'2023 : Advanced Materials and Technologies : June 18th – 21st 2023, Wisła, Poland : book of abstracts / eds. Adam Skowronek, Aleksandra Kozłowska. — Katowice - Gliwice : Archives of Foundry Engineering, cop. 2023. — S. 55

keywords: martensite, EBSD, steels

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski, Piotr Bała, Grzegorz Cios, Marta Gajewska, Aimo Winkelmann

cyfrowy identyfikator dokumentu:

7

[artykuł w czasopiśmie, 2021]

Tytuł	Transmission Kikuchi diffraction: the impact of the signal-to-noise ratio
Autorzy	Tomasz TOKARSKI, Gert Nolze, Aimo WINKELMANN, Łukasz RYCHŁOWSKI, Piotr BAŁA, Grzegorz CIOS
Źródło	Ultramicroscopy. — 2021 vol. 230 art. no. 113372, s. 1–8. — tekst: https://tiny.pl/9twcx

keywords: SEM, EBSD, transmission Kikuchi diffraction, sample holder

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski, Piotr Bała, Grzegorz Cios, Aimo Winkelmann

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.ultramic.2021.113372

8

[artykuł w czasopiśmie, 2023]

Tytuł	Use of electron backscatter diffraction patterns to determine the crystal lattice. Pt. 1, Where is the Bragg angle?
Autorzy	Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Łukasz RYCHŁOWSKI
Źródło	Journal of Applied Crystallography. — 2023 vol. 56 pt. 2, s. 349-360. — tekst: https://journals.iucr.org/j/issues/2023/02/00/nb5337/nb5337.pdf

keywords: lattice parameters, electron backscatter diffraction, Kikuchi patterns, Radon transform, Bragg angles, Kikuchi bands, first derivative, lattice parameter determination, Bravais lattice type

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1107/S1600576723000134

9

[artykuł w czasopiśmie, 2023]

Tytuł	Use of electron backscatter diffraction patterns to determine the crystal lattice. Pt. 2, Offset corrections
Autorzy	Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Łukasz RYCHŁOWSKI
Źródło	Journal of Applied Crystallography. — 2023 vol. 56 pt. 2, s. 361-366. — tekst: https://journals.iucr.org/j/issues/2023/02/00/nb5343/nb5343.pdf

keywords: lattice parameters, electron backscatter diffraction, Kikuchi patterns, lattice parameter determination, mean atomic number, automated Bragg angle determination, dynamical theory of electron diffraction, Funk transform

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1107/S1600576723000146

10

[artykuł w czasopiśmie, 2023]

Tytuł	Use of electron backscatter diffraction patterns to determine the crystal lattice. Pt. 3, Pseudosymmetry
Autorzy	Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Łukasz RYCHŁOWSKI
Źródło	Journal of Applied Crystallography. — 2023 vol. 56 pt. 2, s. 367-380. — tekst: https://journals.iucr.org/j/issues/2023/02/00/nb5341/nb5341.pdf

keywords: lattice parameters, ordered structures, electron backscatter diffraction, Funk transform, Bravais lattices, pseudosymmetry, lattice point density, lattice distortion, backscattered Kikuchi diffraction patterns, disordered structures

Zobacz pełny wykaz publikacji Autora/Autorów: Tomasz Tokarski

cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1107/S1600576723000845

Bibiografia Publikacji Pracowników Akademii Górniczo-Hutniczej im. Stanisława Staszica w Krakowie

Wykaz publikacji wybranego autora

Łukasz Rychłowski, mgr inż.