Wykaz publikacji wybranego autora

Łukasz Rychłowski, mgr inż.

doktorant

Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii
ACMiN, Akademickie Centrum Materiałów i Nanotechnologii


  • 2022

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


  • 2019

    [dyscyplina 1] dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych / inżynieria materiałowa


Identyfikatory Autora

ORCID: 0000-0001-9589-7786 orcid iD

ResearcherID: DRK-0070-2022

Scopus: 57216955375




1
  • Crystallographic analysis of the lattice metric (CALM) from single electron backscatter diffraction or transmission Kikuchi diffraction patterns / Gert Nolze, Tomasz TOKARSKI, Łukasz RYCHŁOWSKI, Grzegorz CIOS, Aimo WINKELMANN // Journal of Applied Crystallography ; ISSN 0021-8898. — 2021 vol. 54 pt. 3, s. 1012-1022. — Bibliogr. s. 1022. — Publikacja dostępna online od: 2021-05-28. — A. Winkelmann - dod. afiliacja: University of Strathclyde, Glasgow, United Kingdom. — tekst: https://journals.iucr.org/j/issues/2021/03/00/nb5295/nb5295.pdf

    orcid iD
  • keywords: lattice parameters, electron backscatter diffraction, Kikuchi patterns, Radon transform

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1107/S1600576721004210

2
  • Transmission Kikuchi diffraction: the impact of the signal-to-noise ratio / Tomasz TOKARSKI, Gert Nolze, Aimo WINKELMANN, Łukasz RYCHŁOWSKI, Piotr BAŁA, Grzegorz CIOS // Ultramicroscopy ; ISSN 0304-3991. — 2021 vol. 230 art. no. 113372, s. 1–8. — Bibliogr. s. 7–8, Abstr.. — Publikacja dostępna online od: 2021-08-14. — P. Bała – dod. afiliacja: Academic Centre for Materials and Nanotechnology, AGH University of Science and Technology. — tekst: https://tiny.pl/9twcx

    orcid iD
  • keywords: SEM, EBSD, transmission Kikuchi diffraction, sample holder

    cyfrowy identyfikator dokumentu: 10.1016/j.ultramic.2021.113372